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龙图腾网获悉同济大学申请的专利一种静态双能断层合成摄像系统和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114081517B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111201682.9，技术领域涉及：A61B6/03；该发明授权一种静态双能断层合成摄像系统和方法是由赵生捷;张桐设计研发完成，并于2021-10-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种静态双能断层合成摄像系统和方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种静态双能断层合成摄像系统和方法，系统包括固定机架，该固定机架的一端固定有分布式碳纳米管阵列光源，另一端固定有双层探测器，分布式碳纳米管阵列光源包括分布式排列的多个场致发射光源，双层探测器包括两个相互叠加的闪烁探测器，分别用于吸收低能X射线光子和高能X射线光子。与现有技术相比，本发明利用分布式碳纳米管阵列光源替代传统BDT中的单射线源+旋转机架架构，避免了多角度测量中的扫描过程；采用双层探测器分别接收两个能谱区间的测量信息，由此可以重建出包含模体材质组分信息的多能谱断层图像，可以发现在二维图像中隐匿的微小病变，减少了不必要的活检以及测量时间和潜在的运动伪影。

本发明授权一种静态双能断层合成摄像系统和方法在权利要求书中公布了：1.一种静态双能断层合成摄像系统的断层合成摄像方法，其特征在于，所述静态双能断层合成摄像系统包括固定机架，该固定机架的一端固定有分布式碳纳米管阵列光源，另一端固定有双层探测器，所述分布式碳纳米管阵列光源包括分布式排列的多个场致发射光源，所述双层探测器包括两个相互叠加的闪烁探测器，分别用于吸收低能X射线光子和高能X射线光子； 所述方法包括以下步骤： 将待摄像模体安装在所述双层探测器前，通过分布式碳纳米管阵列光源根据预先设置的脉冲信号发射X射线，通过电信号同步触发控制双层探测器的曝光，同时获得低能和高能两个谱段的测量数据； 根据预先构建的探测器测量值计算公式与获得的低能和高能两个谱段的测量数据结合，构建重建图像的优化问题，通过不断迭代优化，获取重建图像的最优解，并与基础材料衰减系数相乘，得到该待摄像模体的能谱断层图像； 所述探测器测量值计算公式的构建过程包括： 分别构建双层探测器的低能和高能测量值计算公式； 根据待摄像模体的组分，获取待摄像模体线性衰减系数，并代入所述低能和高能测量值计算公式中； 将所述低能和高能测量值计算公式转化为离散化的形式，并构建包含所有场致发射光源的低能和高能测量值计算公式； 所述双层探测器的低能和高能测量值计算公式为： 式中，I0E为场致发射光源的能谱，DE为双层探测器的能谱响应，为模体在点的线性衰减系数，为X射线的投影路径，Eth为高低能量区分阈值，Ilow为低能测量值，Ihigh为高能测量值，Emin为能量最小值，Emax为能量最大值； 所述待摄像模体的组分包括脂肪和腺体，所述待摄像模体的线性衰减系数的表达式为： 式中，τE表示组分的线性衰减系数，表示该组分在点的比重，下标1和2分别对应组分脂肪和腺体； 代入待摄像模体线性衰减系数后，所述低能和高能测量值计算公式为： 包含所有场致发射光源的低能和高能测量值计算公式为： ylow＝exp-HXT·wlow yhigh＝exp-HXT·whigh 式中，ylow为包含所有场致发射光源的低能测量值，yhigh为包含所有场致发射光源的高能测量值，ylow,Mx×My为双层探测器的探测维度，wlow,表示双能探测器的高低能谱响应，表示离散为N个体元的模体中每个体元中第l种基础材料的权重，表示2种材料在共计K个能谱区间的谱衰减，H为各投影路径和模体中每个体元的交集。

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