武汉工程大学李晖获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉工程大学申请的专利一种基于微透镜阵列的三维重建方法、装置以及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115222874B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210610242.7,技术领域涉及:G06T17/00;该发明授权一种基于微透镜阵列的三维重建方法、装置以及存储介质是由李晖;王长淼设计研发完成,并于2022-05-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于微透镜阵列的三维重建方法、装置以及存储介质在说明书摘要公布了:本发明提供一种基于微透镜阵列的三维重建方法、装置以及存储介质,属于光场显微领域,方法包括:导入多个光场原始数据,对多个光场原始数据的白图像处理得到目标白图像;筛选目标白图像中亮度值最大的坐标,筛选后得到多个微透镜中心坐标,并通过所有的微透镜中心坐标构建得到微透镜阵列面坐标;通过CCD相机获得子孔径图像,并导入点光源数据,并分析子孔径图像、点光源数据和微透镜阵列面坐标得到三维重建的结果。本发明可以获得不同成像深度上的光场显微成像结果,且三维重建效果较为良好,能够适用于光场显微的三维重建。
本发明授权一种基于微透镜阵列的三维重建方法、装置以及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种基于微透镜阵列的三维重建方法,其特征在于,包括如下步骤: 导入多个光场原始数据,对多个所述光场原始数据进行白图像处理,得到目标白图像; 筛选所述目标白图像中亮度值最大的坐标,筛选后得到多个微透镜中心坐标,并通过所有的微透镜中心坐标构建得到微透镜阵列面坐标; 通过CCD相机获得子孔径图像,并导入点光源数据,并分析所述子孔径图像、所述点光源数据和所述微透镜阵列面坐标得到估计值,并将所述估计值作为三维重建的结果; 所述点光源数据包括点光源坐标和点光源强度; 所述分析所述子孔径图像、所述点光源数据和所述微透镜阵列面坐标得到估计值的过程包括: 基于PSF模型对所述点光源坐标、所述点光源强度和所述微透镜阵列面坐标进行光强分布的计算,得到光强分布; 对所述光强分布和所述子孔径图像进行估计值的计算,得到估计值; 所述对所述光强分布和所述子孔径图像进行估计值的计算,得到估计值的过程包括: 通过第一式和预设迭代次数对所述光强分布和所述子孔径图像进行估计值的计算,得到估计值,所述第一式为: f'i+1x,y,z={gx,y,z[fi'x,y,z*hx,y,z]*h-x,-y,-z}fi'x,y,z, 其中,f'i+1x,y,z为第i+1次迭代的估计值,fi'x,y,z为第i次迭代的估计值,gx,y,z为子孔径图像,f1'x,y,z=gx,y,z,hx,y,z为光强分布,h-x,-y,-z为hx,y,z的共轭表示。
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