本源量子计算科技(合肥)股份有限公司石汉卿获国家专利权
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龙图腾网获悉本源量子计算科技(合肥)股份有限公司申请的专利单量子比特逻辑门的测试方法、量子控制系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN117313874B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210708856.9,技术领域涉及:G06N10/20;该发明授权单量子比特逻辑门的测试方法、量子控制系统是由石汉卿;孔伟成设计研发完成,并于2022-06-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本单量子比特逻辑门的测试方法、量子控制系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种单量子比特逻辑门的测试方法、量子控制系统,首先获取单量子比特逻辑门的物理模型,并将所述单量子比特逻辑门施加到所述待测量子比特上,获取对应的实验结果,最后基于所述物理模型以及所述实验结果判断所述单量子比特逻辑门是否符合要求。基于本申请提出的单量子比特逻辑门的测试方法对单量子比特逻辑门进行测试,由于预先建立了单量子比特逻辑门的物理模型,通过物理模型跟实验结果比较直接能得出单量子比特逻辑门是否符合要求,整个测试过程无需人工介入,可以实现快速判断当前的单量子比特逻辑门是否符合要求,在一定程度上提高了量子芯片测试过程的执行效率。
本发明授权单量子比特逻辑门的测试方法、量子控制系统在权利要求书中公布了:1.一种单量子比特逻辑门的测试方法,其特征在于,包括: 获取单量子比特逻辑门的物理模型,所述物理模型用于反映所述单量子比特逻辑门施加到待测量子比特上时得到的理论预期结果,所述单量子比特逻辑门包括X门; 将所述单量子比特逻辑门施加到所述待测量子比特上,获取对应的实验结果,所述实验结果包括所述待测量子比特处于|0态和或|1态的概率随所述单量子比特逻辑门的幅值变化情况; 基于所述物理模型以及所述实验结果判断所述单量子比特逻辑门是否符合要求; 其中,所述X门的物理模型包括: 所述X门施加到所述待测量子比特上得到的理论预期结果满足以下公式: 其中,y为所述待测量子比特处于|0态或|1态的概率,x为所述X门的幅值,A、f0、Ф以及C均为所述物理模型的参数。
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