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龙图腾网获悉中国科学院近代物理研究所申请的专利一种基于纳剂量学量加权剂量优化的离子辐照方案设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115607854B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211266665.8，技术领域涉及：A61N5/10；该发明授权一种基于纳剂量学量加权剂量优化的离子辐照方案设计方法是由杨静芬;李强;刘新国;戴中颖;贺鹏博;马圆圆;申国盛;陈卫强;张晖设计研发完成，并于2022-10-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于纳剂量学量加权剂量优化的离子辐照方案设计方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于纳剂量学量加权剂量优化的离子辐照方案设计方法。本发明采用纳剂量学量加权剂量对离子辐照方案进行优化，从本质上充分利用了离子束的辐射品质，实现了更为精准的离子辐照方案和计划设计，进而提高了应用和预测离子束辐射效应的准确性。

本发明授权一种基于纳剂量学量加权剂量优化的离子辐照方案设计方法在权利要求书中公布了：1.基于纳剂量学量物理量进行辐照方案设计的方法，包括如下步骤： 1剂量及纳剂量学量的获取 通过实验测量获取或通过蒙特卡罗MC模拟和解析方法计算得到离子束的剂量分布； 通过纳剂量计测量获取或由径迹结构MC模拟计算得到光子以及离子束的电离簇尺寸v的概率密度分布Pv|Q，通过公式1计算得到归一化的概率密度分布： 其中，Q为光子或离子束的辐射品质，v为电离簇尺寸； 根据电离簇尺寸概率密度分布通过公式2计算获得电离簇尺寸v≥2概率密度分布的累计概率F2： 根据电离簇尺寸概率密度分布通过公式3计算获得电离簇尺寸v≥3概率密度分布的累计概率F3： 根据电离簇尺寸概率密度分布通过公式4计算获得电离簇尺寸v≥n概率密度分布的累计概率Fn： 将得到的离子束的剂量分布及纳剂量学量F2，F3和Fn制成表格，作为离子辐照方案设计的基础数据， 其中，所述电离簇尺寸v为在一个纳体积元内发生的电离数目； 2离子束辐照方案的设计 依据辐照靶区的辐射敏感性选择合适的纳剂量学量Fn，依据光子的处方剂量及危及器官剂量限值条件，根据公式5，确定离子束辐照方案靶区处方剂量和危及器官剂量限值： 上述公式中，NQWD为纳剂量学量加权剂量，D为物理吸收剂量，Fn_Ion和Fn_X分别为离子束以及X射线电离簇尺寸v≥n的累积概率； 通过计算获得的纳剂量学量和剂量分布基础数据，采用现有的相对生物学效应加权剂量RWD优化算法，对NQWD进行优化，得到靶区内NQWD均匀的辐照方案。

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