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龙图腾网获悉重庆大学申请的专利一种平板探测器信号串扰校正装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115778415B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211313353.8，技术领域涉及：A61B6/03；该发明授权一种平板探测器信号串扰校正装置及方法是由安康;段晓礁;周日峰;卢艳平设计研发完成，并于2022-10-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种平板探测器信号串扰校正装置及方法在说明书摘要公布了：本申请提供一种平板探测器信号串扰校正装置及方法，所述装置包括X射线源、平板探测器，以及设置在平板探测器与X射线源之间、紧贴平板探测器放置的校正单元，所述校正单元包括环形刻度盘、旋转组件、长方形金属薄片。所述方法步骤为：固定装置；确定方阵阶数，并计算成像次数及旋转角度；按照预定角度依次旋转校正装置，采集投影图像，并计算投影图像的线扩散向量；利用线扩散向量迭代计算反卷积校正方阵；利用反卷积校正方阵去除投影图像串扰。本申请应用校正装置和校正方法，通过简单的步骤获得准确的平板探测器PSF以校正平板探测器信号串扰，提升投影图像分辨率。

本发明授权一种平板探测器信号串扰校正装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种平板探测器信号串扰校正方法，其特征在于，采用平板探测器信号串扰校正装置进行串扰校正，平板探测器信号串扰校正装置包括：X射线源、平板探测器，还包括设置在所述平板探测器与X射线源之间、紧贴平板探测器放置的校正单元； 所述校正单元包括环形刻度盘1、旋转组件2、长方形金属薄片3，所述旋转组件2的旋转中心轴与环形刻度盘1中心轴线重合，所述长方形金属薄片3固定安装在所述旋转组件2上； 所述环形刻度盘1上刻有角度标识4，所述旋转组件2可沿环形刻度盘1中心轴线进行360°旋转，所述旋转组件2上设置有位置指针201，所述长方形金属薄片3的测量边301与所述位置指针201中心重合，且所述测量边301的旋转中心位于所述环形刻度盘1的中心轴线上。 串扰校正方法具体步骤为： 1装置初始化：将所述校正单元固定在平板探测器中心位置，使圆环形刻度盘1上0°位置对准垂直方向或水平方向，并使位置指针201指向0°位置； 2参数初始化：预设用于信号串扰去除的反卷积校正方阵的阶数N，计算需要的测量的次数M以及旋转组件2相应的单次旋转角度a； 3投影图像采集：将旋转组件2旋转角度a2，进行X射线成像测试，获得校正装置的第一投影图像，再依次将旋转组件2旋转角度a，每一旋转后均进行X射线成像测试，获得第二至第M投影图像； 4计算线扩散向量：计算第一至第M投影图像线扩散向量Ymi，其中：i＝1,2...K,m＝1,2...M； 5计算校正方阵：采用线扩散向量Ymi，通过迭代计算获得反卷积校正方阵； 6串扰校正：采用反卷积校正方阵对投影图像进行反卷积，完成平板探测器投影图像的信号串扰校正。

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