苏州大学汤如俊获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州大学申请的专利低维材料电学性能变温测试台及变温测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115753946B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211424156.3，技术领域涉及：G01N27/416；该发明授权低维材料电学性能变温测试台及变温测试装置是由汤如俊;徐一锋设计研发完成，并于2022-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本低维材料电学性能变温测试台及变温测试装置在说明书摘要公布了：本发明涉及低维材料电学性能变温测试台及变温测试装置，包括样品台，样品台上设置有凹槽，凹槽内设置有垫片，待测样品设置在垫片上；电极掩模板，覆盖设置在所述待测样品上；金属屏蔽环，其外径不大于所述垫片的外径，所述电极掩模板的外径小于所述金属屏蔽环的内径，且金属屏蔽环与垫片相抵接；探针，设置有至少四个，所述至少四个探针均沿所述凹槽周向设置在所述样品台上，所述电极掩模板上设置有至少四个探针孔，所述待测样品的电极端设置在所述探针孔内，所述探针的针尖穿过所述探针孔与所述待测样品的电极端相抵接，所述探针的另一端固定设置在所述样品台上。本发明易于精确定位，实验测试结果准确，测试效率较高。
本发明授权低维材料电学性能变温测试台及变温测试装置在权利要求书中公布了：1.一种低维材料电学性能变温测试台，其特征在于，包括： 样品台，所述样品台上设置有凹槽，所述凹槽内设置有垫片，待测样品设置在所述垫片上； 电极掩模板，所述电极掩模板覆盖设置在所述待测样品上； 金属屏蔽环，所述金属屏蔽环的外径不大于所述垫片的外径，所述电极掩模板的外径小于所述金属屏蔽环的内径，且所述金属屏蔽环与所述垫片相抵接； 探针，设置为铂探针或者镀铂探针；所述探针设置有至少四个，所述至少四个探针均沿所述凹槽周向设置在所述样品台上，所述电极掩模板上设置有至少四个探针孔，所述待测样品的电极端设置在所述探针孔内，所述探针的针尖穿过所述探针孔与所述待测样品的电极端相抵接，所述探针的另一端固定设置在所述样品台上； 其中，所述垫片上设置有多个点电极，所述待测样品的电极端固定设置在所述点电极上，所述探针与所述点电极相抵接。
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