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龙图腾网获悉南京航空航天大学;西安空间无线电技术研究所申请的专利一种建立火星电离层白天电子密度模型的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115758724B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211439400.3，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种建立火星电离层白天电子密度模型的方法是由黄朝艳;葛春雨;吴森妮;王义元;赵启龙;蒯家伟设计研发完成，并于2022-11-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种建立火星电离层白天电子密度模型的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种建立火星电离层白天电子密度模型的方法，步骤如下：将火星电离层分成M1M2层、过渡层和顶层；建立M1M2层随太阳天顶角和海拔高度变化的电子密度模型；建立过渡层随太阳天顶角和海拔高度变化的电子密度模型；建立顶层随海拔高度变化的电子密度模型；组合得到火星电离层白天电子密度模型。本发明的方法通过分层建模技术，建立了一个包含M1层和M2层以上部分电子密度的多层电子密度计算模型，新模型较只考虑M2层的局部Chapman模型更加完整、精准。

本发明授权一种建立火星电离层白天电子密度模型的方法在权利要求书中公布了：1.一种建立火星电离层白天电子密度模型的方法，其特征在于，步骤如下： 1将火星电离层分成M1M2层、过渡层和顶层； 2建立M1M2层随太阳天顶角和海拔高度变化的电子密度模型； 3建立过渡层随太阳天顶角和海拔高度变化的电子密度模型； 4建立顶层随海拔高度变化的电子密度模型； 5组合得到火星电离层白天电子密度模型； 步骤2具体包括： M1M2层受光化学过程影响，电子密度具有显著的双峰值分布特征，电子密度峰值和电子密度峰值对应的海拔高度随太阳天顶角的变化均符合Chapman理论；采用双Chapman模型描述M1M2层白天电子密度随太阳天顶角和海拔高度的变化，具体如下： 式中，为随太阳天顶角和海拔高度变化的M1M2层电子密度，SZA为太阳天顶角，白天即SZA∈0,90°，z为火星海拔高度，下标字符型变量α分别取M1和M2，Nmα为给定SZA下的峰值电子密度，Nm0α为日下点峰值电子密度，kα为决定光化学过程的参数，zmα为给定SZA下的峰值电子密度对应的海拔高度，zmα＝zm0α+Hln[secSZA]，zm0α为日下点峰值电子密度对应的海拔高度，H为中性大气标高； 公式1中，待定参数为kα、H、Nm0α和zm0α；待定参数kα直接采用已有的经验值：对于α＝M1，太阳活动高年、中年、低年三种情形，对应值分别为0.53、0.551±0.024、0.55；对于α＝M2，太阳活动高年、中年、低年三种情形，对应值分别为0.49、0.465±0.010、0.42；将火星全球探勘者号卫星探测的海拔高度、太阳天顶角和电子密度数据代入公式1中，利用matlab中cftool工具箱中自定义方程拟合，得到剩余的模型参数H、 和 步骤3具体包括： 过渡层电子密度同时受光化学过程和输运过程影响，光化学过程采用步骤2中已建立的模型描述，输运过程采用电子密度随海拔高度变化呈半抛物线型的计算模型进行补偿，具体如下： 式中，ΝeMID为随太阳天顶角和海拔高度变化的过渡层电子密度，az2+2a·bz+c为半抛物线型的计算模型，z为火星海拔高度，a、b和c为模型待定系数；将火星全球探勘者号卫星探测的海拔高度、太阳天顶角和电子密度数据分别代入公式2中，利用matlab中cftool工具箱中二阶多项式拟合，得到模型系数a、b和c； 步骤4具体包括： 顶层电子密度受输运过程影响，随海拔高度增加呈指数下降，采用指数型计算模型，具体如下： NeTOPz＝NTOPexp-kTOPz3 式中，ΝeTOP为随海拔高度变化的顶层电子密度，z为火星海拔高度，NTOP和kTOP为模型参数；将火星全球探勘者号卫星探测的海拔高度和电子密度数据代入公式3中，利用matlab中cftool工具箱中自定义方程拟合，得到模型参数NTOP和kTOP。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南京航空航天大学;西安空间无线电技术研究所，其通讯地址为：210016 江苏省南京市秦淮区御道街29号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。