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浙江大学刘飞获国家专利权

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龙图腾网获悉浙江大学申请的专利三七镉元素含量的确定方法、系统、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116519667B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310467227.6,技术领域涉及:G01N21/71;该发明授权三七镉元素含量的确定方法、系统、电子设备及存储介质是由刘飞;陈榕钦;李小龙;杨睿;卢轶;游政凯;孔汶汶;彭继宇;黄晶设计研发完成,并于2023-04-25向国家知识产权局提交的专利申请。

三七镉元素含量的确定方法、系统、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了:本发明公开一种三七镉元素含量的确定方法、系统、电子设备及存储介质,涉及金属含量检测技术领域,所述方法包括:对待检测三七进行激光烧蚀处理后,确定待检测三七上每个待检测烧蚀坑的待检测激光诱导击穿光谱和形状参数;形状参数包括:横截面积、最大深度、周长、垂直费雷特直径和表面积;基于各待检测激光诱导击穿光谱确定对应待检测烧蚀坑的待检测特征发射谱线的校正强度;基于三七镉含量拟合方程以及待检测三七的所有形状参数和校正强度,确定待检测三七的镉元素含量;三七镉含量拟合方程是利用多个三七样本的镉元素含量真实值、形状参数和特征发射谱线的校正强度确定的。本发明提高了三七镉元素含量检测的准确率。

本发明授权三七镉元素含量的确定方法、系统、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种三七镉元素含量的确定方法,其特征在于,所述方法包括: 对待检测三七进行激光烧蚀处理后,确定所述待检测三七上每个待检测烧蚀坑的待检测激光诱导击穿光谱和形状参数;所述形状参数包括:横截面积、最大深度、周长、垂直费雷特直径和表面积; 基于各所述待检测激光诱导击穿光谱确定对应待检测烧蚀坑的待检测特征发射谱线的校正强度; 基于三七镉含量拟合方程以及所述待检测三七的所有形状参数和校正强度,确定所述待检测三七的镉元素含量;所述三七镉含量拟合方程是利用多个三七样本的镉元素含量真实值、形状参数和特征发射谱线的校正强度确定的; 所述三七镉含量拟合方程的确定过程,包括: 制备多个含有镉元素的三七样本; 确定各所述三七样本的镉元素含量真实值; 对每个所述三七样本进行激光烧蚀处理后,确定各所述三七样本上每个样本烧蚀坑的样本激光诱导击穿光谱和形状参数; 基于各所述样本激光诱导击穿光谱确定对应样本烧蚀坑的样本特征发射谱线的校正强度; 利用多元线性回归法,基于各所述样本烧蚀坑的形状参数和样本特征发射谱线的校正强度,确定对应样本烧蚀坑的新响应值; 三七样本的n个采集点烧蚀坑的形状参数记作:横截面积An、最大深度Dn、周长Pn、垂直费雷特直径Fn、表面积Sn,用于描述烧蚀坑的形状特征;LIBS系统采集得到的信号强度经过比值校正后得到xN’n;以及镉元素含量真实值Cn,将xN’n、An、Dn、Pn、Fn、Sn作为自变量输入、Cn作为因变量输出,通过多元线性回归方法分析,得到反映各个自变量重要程度的加权回归系数β,将β作为对应自变量的系数,构建新响应值R作为纵坐标值,建立基于新响应值的定标曲线模型,如下:R=β1xN’n+β2An+β3Dn+β4Pn+β5Fn+β6Sn,其中,β1、β2、β3、β4、β5、β6是输入的自变量所对应的加权回归系数; 基于所有所述新响应值和所有所述镉元素含量真实值,确定三七镉含量拟合方程,以样本三七镉元素含量为横坐标,新响应值为纵坐标,绘制定标曲线,得到线性拟合方程,用于检测三七镉元素含量; 基于各所述待检测激光诱导击穿光谱确定对应待检测烧蚀坑的待检测特征发射谱线的校正强度,具体包括: 从各所述待检测激光诱导击穿光谱中确定对应待检测烧蚀坑的待检测特征发射谱线; 计算各所述待检测烧蚀坑的待检测强度比值集;所述待检测强度比值集包括多个待检测强度比值,其中,第j个待检测强度比值为所述待检测特征发射谱线的强度和对应的待检测烧蚀坑的待检测激光诱导击穿光谱中的第j个待检测非特征发射谱线的强度的比值;1j≤q-1,q为待检测激光诱导击穿光谱的波长总数; 基于各所述待检测烧蚀坑的待检测强度比值集和待检测特征发射谱线的强度,确定对应待检测烧蚀坑的待检测特征发射谱线的校正强度,具体包括: 已知n组LIBS光谱矩阵X=[x1,…,xp]n*p以及对应的n组三七样品镉元素浓度真实值Cn,p为LIBS光谱数据的波长总数,p个波长构成一条LIBS谱线,从LIBS光谱矩阵X中依次选取第j个波长位置j=1,2,…,p-1,所对应的信号强度记作zj,则zj∈X,利用下面的公式计算特征峰强度与LIBS光谱各个波长位置信号强度即非特征发射谱线的比值:Bj=xNzj,其中,Bj为LIBS光谱中的特征发射谱线的强度与第j个波长位置信号强度的比值;N为元素特征峰在光谱即特征发射谱线对应的波长位置;xN为特征发射谱线的强度; 由n个采集点得到n组Bj与C,C为三七样本镉元素含量真实,计算特征峰校正强度与镉元素含量的线性相关系数,计算方法为:,其中,Bji为第i个采集点的特征峰强度与波长位置j的信号强度经过比值计算得到的校正强度;yi为第i个采集点所对应的镉元素含量的真实值;为光谱强度的均值;为镉元素含量的均值; 光谱的波段范围由p个波长数组成,计算得到的p个相关系数,将结果按照降序排列,选择前m个相关系数对应的[zj]n为干扰变量Z=[z1,…,zm]n,m≤30,利用下面的公式计算筛选出的干扰变量均值:,从而得到校正后的LIBS光谱矩阵X’:,在校正后的LIBS光谱矩阵X’中,N处对应的信号强度xN’为特征峰比值校正后的信号强度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人浙江大学,其通讯地址为:310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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