长鑫存储技术有限公司梁翔宇获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利灵敏放大器的测试方法和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119207495B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310737199.5，技术领域涉及：G11C7/06；该发明授权灵敏放大器的测试方法和电子设备是由梁翔宇;杨名;李先东;朱陈宇;苏信政设计研发完成，并于2023-06-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本灵敏放大器的测试方法和电子设备在说明书摘要公布了：本申请提供一种灵敏放大器的测试方法和电子设备，包括：在参考测试模式下获取第一损耗量与第一错误率之间第一映射关系。其中，参考测试模式包括参考因素，第一损耗量为参考因素对位线电压的损耗量，第一错误率为在第一损耗量的作用下从目标存储区域中读取数据的读出错误率，在目标测试模式下获取第二损耗量与第二错误率之间第二映射关系。其中，在目标测试模式包括参考因素和目标因素，第二损耗量为参考因素和目标因素共同对位线电压的损耗量，第二错误率为在第二损耗量的作用下从目标存储区域中读取数据的读出错误率。根据第一映射关系和第二映射关系，计算获得目标因素对灵敏放大器的感测裕度的影响值。
本发明授权灵敏放大器的测试方法和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种灵敏放大器的测试方法，其特征在于，目标存储区域包括所述灵敏放大器和存储单元，位线与所述灵敏放大器和所述存储单元连接；所述方法包括： 在参考测试模式下获取第一损耗量与第一错误率之间第一映射关系；其中，所述参考测试模式包括参考因素，所述第一损耗量为所述参考因素对所述位线电压的损耗量，所述第一错误率为在所述第一损耗量的作用下从所述目标存储区域中读取数据的读出错误率； 在目标测试模式下获取第二损耗量与第二错误率之间第二映射关系；其中，所述目标测试模式包括所述参考因素和目标因素，所述第二损耗量为所述参考因素和所述目标因素共同对所述位线电压的损耗量，所述第二错误率为在所述第二损耗量的作用下从所述目标存储区域中读取数据的读出错误率； 根据所述第一映射关系和所述第二映射关系，计算获得所述目标因素对所述灵敏放大器的感测裕度的影响值。
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