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龙图腾网获悉季华实验室申请的专利吸收率曲线计算方法、设计方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117725813B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311489021.X，技术领域涉及：G06F30/27；该发明授权吸收率曲线计算方法、设计方法、装置、设备及介质是由訾剑臣;张翔源设计研发完成，并于2023-11-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本吸收率曲线计算方法、设计方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种吸收率曲线计算方法、设计方法、装置、设备及介质，将逆向设计模型与目标吸收率曲线计算模型组建形成自编码器，并且使得逆向设计模型作为编码器对采集得到的增强光谱进行残差网络运算并低维编码后输出用于从作为解码器的目标吸收率曲线计算模型输入的结构参数完成对逆向设计模型以及目标吸收率曲线计算模型的训练，形成目标吸收率曲线计算模型，然后在将标准数据集输入至目标吸收率曲线计算模型中完成残差网络运算，最终输出得到目标吸收率曲线，无需根据人工经验以及仿真处理即可使用人工设计指定频段和曲线形状的吸收率曲线来获得拥有这种吸收率特性的超构表面结构，而不是使用已知的吸收率曲线来逆向获得对应结构，简化了设计流程同时提升了设计效率。

本发明授权吸收率曲线计算方法、设计方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种吸收率曲线计算方法，其特征在于，包括如下步骤： 获取训练数据集；其中，所述训练数据集包括从标准模型上采集得到的多个训练样本，各所述训练样本包括初始吸收曲线以及结构参数，所述标准模型包括金属基板以及多个间隔且阵列分布于所述基板上的超构单元，各所述超构单元呈圆柱状结构，所述超构单元包括自所述基板朝远离所述基板的方向依次层叠设置的第一吸收模组以及至少一个第二吸收模组，所述第一吸收模组包括第一有机层以及第一金属层，所述第二吸收模组包括第二有机层以及第二金属层，所述第二有机层与所述第一金属层相邻，所述结构参数包括所述第一吸收模组的第一直径、所述第二吸收模组的第二直径、第一有机层的第一厚度、所述第二有机层的第二厚度以及任意相邻的两根超构单元之间的中心间距； 利用所述训练数据集训练初始化吸收率曲线计算模型，获得目标吸收率曲线计算模型，以在将当前数据集输入至所述目标吸收率曲线计算模型时，获取目标吸收率曲线；其中，所述初始化吸收率曲线计算模型包括五个残差块，五个所述残差块均包括第一卷积层、第二卷积层、第一批量规范化层以及第二批量规范化层，所述第一卷积层用于对输入的所述结构参数进行卷积运算，所述第一批量规范化层用于对所述第一卷积层输出的运算结果进行规范处理，所述第二卷积层用于对经过所述第一批量规范化层规范处理之后的数据进行卷积运算，所述第二批量规范化层用于对所述第二卷积层输出端运算结果进行规范处理； 所述利用所述训练数据集训练初始化吸收率曲线计算模型，获得目标吸收率曲线计算模型，以在将当前数据集输入至所述目标吸收率曲线计算模型时，获取目标吸收率曲线的步骤，还包括： 利用各所述第一卷积层接收所述训练数据集并结合第二损失函数训练所述初始化吸收率曲线计算模型，获得逆向设计模型，以在将当前数据集输入至所述逆向设计模型时，获取所述结构参数；其中，所述第二损失函数为均方误差损失函数。

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