上海联影医疗科技股份有限公司胡仁芳获国家专利权
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龙图腾网获悉上海联影医疗科技股份有限公司申请的专利一种散射校正方法、系统及可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114638910B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210357119.9，技术领域涉及：G06T11/00；该发明授权一种散射校正方法、系统及可读存储介质是由胡仁芳设计研发完成，并于2022-04-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种散射校正方法、系统及可读存储介质在说明书摘要公布了：本说明书实施例提供了一种散射校正方法、系统及计算机可读存储介质。所述方法包括：获取扫描对象的定位扫描数据；获取所述扫描对象的断层扫描数据；基于所述断层扫描数据，确定所述扫描对象的散射估计数据；基于所述散射估计数据以及目标匹配条件，确定目标数据，所述目标匹配条件与所述定位扫描数据有关。
本发明授权一种散射校正方法、系统及可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种散射校正方法，其特征在于，所述方法包括： 通过定位片扫描，获取扫描对象的定位扫描数据，所述定位片扫描为极窄束扫描； 获取所述扫描对象的断层扫描数据； 基于所述断层扫描数据，确定所述扫描对象的散射估计数据； 基于所述散射估计数据，确定所述扫描对象的散射校正数据； 对所述定位扫描数据中在多个目标床码位置采集的定位扫描数据进行拼接，确定预设范围的定位数据； 将所述散射校正数据中的至少部分与所述预设范围的所述定位数据进行比较，若比较结果满足阈值条件，则将所述散射校正数据确定为目标数据； 所述定位扫描数据中的至少部分与所述断层扫描数据中的至少部分之间具有相同的扫描角度和或相同的病床床码位置范围。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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