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龙图腾网获悉天津大学申请的专利一种基于稀疏重构算法的太赫兹涂层检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119354072B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411549820.6，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权一种基于稀疏重构算法的太赫兹涂层检测方法及系统是由田震;杨云帆设计研发完成，并于2024-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于稀疏重构算法的太赫兹涂层检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明设计一种基于稀疏重构算法的太赫兹涂层检测方法及系统，首先使用稀疏表示算法分解反射的太赫兹时域光谱，可将混叠的反射信号有效区分；然后通过重构算法处理分解得到的稀疏解，可自动、精确地定位反射信号的幅度和时间间隔；最后，利用菲涅尔公式和反射模型计算出材料的折射率，进而根据折射率和反射峰的时间间隔计算出热胀涂层的几何厚度。

本发明授权一种基于稀疏重构算法的太赫兹涂层检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于稀疏重构算法的太赫兹涂层检测方法，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤： 步骤一，使用太赫兹时域光谱仪测量涂层；具体为将太赫兹时域光谱系统所发射的太赫兹脉冲垂直入射至涂层，收集反射信号，记为Y； 步骤二，构建稀疏表示字典；将太赫兹时域光谱仪发出的信号作为参考信号，记为E0y；在参考信号的基础上通过托普利茨Toeplitz矩阵形式构建字典矩阵X； 步骤三，基于步骤一中的反射信号Y以及步骤二中构建的字典矩阵X求解反射信号的稀疏表示结果 步骤四，对步骤三中的稀疏表示结果进行分组，将其中相邻的非零数值归为一组；分组后的脉冲响应序列依次记为h1、h2、h3,1,2,3代表层数； 步骤五，利用分组结果h1、h2、h3重构各反射信号；通过以下公式依次重构反射信号： y1＝Xh1 y2＝Xh21 y3＝Xh3 式中，h1、h2、h3表示分组后的第1、2、3组脉冲响应序列，y1、y2、y3表示重构后的第1、2、3个反射峰； 步骤六，依次提取出步骤五中获得的第1、2、3个反射峰的幅值及达到最大幅值时的时间，第1个反射峰的幅值记为E1，第2个反射峰的幅值记为E2，第3个反射峰的幅值记为E3，相邻的反射峰达到最大幅值时的时间差记为Δt； 步骤七，依据步骤六中获得的各个反射峰幅值计算涂层材料的折射率n； 步骤八，太赫兹脉冲在涂层中传播的距离为涂层厚度的2倍，根据此关系利用折射率可以计算出涂层材料的厚度为： 式中，d为涂层的厚度，c为真空中的光速，Δt为相邻的反射峰达到最大幅值时的时间差。

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