中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所杨鑫宇获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所申请的专利基于低分辨率紫外吸收层析的高温高压温度场测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119595116B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411657742.1，技术领域涉及：G01J5/48；该发明授权基于低分辨率紫外吸收层析的高温高压温度场测量方法是由杨鑫宇;蔡静;常海涛;钱宝健;杨永军设计研发完成，并于2024-11-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于低分辨率紫外吸收层析的高温高压温度场测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于低分辨率紫外吸收层析的高温高压温度场测量方法，包括：根据待测温度场的温度，选择紫外波段NO或OH的电子跃迁作为吸收光谱测量对象，并且根据待测温度场的浓度和尺寸条件，选择测量对象的振动谱带，确定待测波长范围；选择宽谱光源和低分辨率光谱仪分别作为吸收光谱测量所需的光源和探测器；组建吸收层析的光路网络，每一条光路均使用所选择的宽谱光源及低分辨光谱仪，对全部光路进行测量对象的吸收光谱测量，由各光路采集的吸收光谱信号计算得到各空间位置的温度，完成温度场重建。本发明能够实现高温高压条件下的吸收光谱准确测温，并结合层析重建算法实现高温高压温度场的准确测量。
本发明授权基于低分辨率紫外吸收层析的高温高压温度场测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于低分辨率紫外吸收层析的高温高压温度场测量方法，其特征在于，包括： 步骤S1：根据待测温度场的温度，选择紫外波段NO或OH的电子跃迁作为吸收光谱测量对象，并且根据待测温度场的浓度和尺寸条件，选择测量对象的振动谱带，确定待测波长范围； 步骤S2：选择宽谱光源和低分辨率光谱仪分别作为吸收光谱测量所需的光源和探测器； 步骤S3：组建吸收层析的光路网络，每一条光路均使用步骤S2中选择的宽谱光源及低分辨光谱仪，对全部光路进行步骤S1中选择的测量对象的吸收光谱测量，由各光路采集的吸收光谱信号计算得到各空间位置的温度，完成温度场重建。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所，其通讯地址为：100095 北京市海淀区温泉镇环山村1066信箱；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由AI智能生成
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号