浙江美迪凯光学半导体有限公司韩巍巍获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江美迪凯光学半导体有限公司申请的专利一种多规格平坦度测量治具获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223346113U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422947997.3，技术领域涉及：G01B5/28；该实用新型一种多规格平坦度测量治具是由韩巍巍;韩威风;王丙森;刘双龙设计研发完成，并于2024-12-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种多规格平坦度测量治具在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种多规格平坦度测量治具，包括底板、小型测量模块、中型测量模块和大型测量模块，小型测量模块、中型测量模块和大型测量模块的四边角分别开设由小型测量模块定位孔、中型测量模块定位孔、大型测量模块定位孔，底板上对应小型测量模块定位孔、中型测量模块定位孔、大型测量模块定位孔分别设置有小型测量模块定位柱、中型测量模块定位柱、大型测量模块定位柱。本实用新型通过模块化设计，实现了对不同规格产品的灵活测量，根据需要自由组合，快速搭建出适用于不同规格产品的测量平台。该治具不仅提高了测量精度和效率，还大大降低了生产成本和维护难度。
本实用新型一种多规格平坦度测量治具在权利要求书中公布了：1.一种多规格平坦度测量治具，其特征是，其包括底板、小型测量模块、中型测量模块和大型测量模块，小型测量模块、中型测量模块和大型测量模块的四边角分别开设由小型测量模块定位孔、中型测量模块定位孔、大型测量模块定位孔，底板上对应小型测量模块定位孔、中型测量模块定位孔、大型测量模块定位孔分别设置有小型测量模块定位柱、中型测量模块定位柱、大型测量模块定位柱，底板上对应小型测量模块、中型测量模块和大型测量模块的相邻两边的两侧分别对应设置有小型测量模块限位柱、中型测量模块限位柱和大型测量模块限位柱，小型测量模块、中型测量模块和大型测量模块上分别对应设置有多个检测点，每个检测点上安装有平坦度测量单元，中型测量模块上对应小型测量模块定位柱和小型测量模块限位柱分别设置有连接孔，大型测量模块上对应小型测量模块定位柱、小型测量模块限位柱、中型测量模块定位柱和中型测量模块限位柱分别设置有连接孔。
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