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龙图腾网获悉暨南大学申请的专利超构表面设计方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119962183B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510029345.8，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权超构表面设计方法、装置、设备及存储介质是由邓子岚;万舟;吴永辉;李枫竣;史坦;李向平设计研发完成，并于2025-01-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本超构表面设计方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供一种超构表面设计方法、装置、设备及存储介质。涉及衍射光学元件设计技术领域。该方法包括：在GS算法的基础上引入光栅结构得到基于光栅衍射级次的GS算法模型，利用基于光栅衍射级次的GS算法模型来获取的目标面的采样点位置；构建复杂光场下多角度结构数据库；基于目标面的采样点位置以及复杂光场下多角度结构数据库，进行超构表面特性的逆向设计，得到超构表面结构。本申请通过引入基于超构表面特性的改进GS算法和复杂光场下多角度结构数据库，确保超构表面在复杂光场多角度入射下仍能准确调制相位，从而实现低均一性误差和高衍射效率的结构光。

本发明授权超构表面设计方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种超构表面设计方法，其特征在于，所述方法包括： 在GS算法的基础上引入光栅结构得到基于光栅衍射级次的GS算法模型，利用基于光栅衍射级次的GS算法模型来获取的目标面的采样点位置； 构建复杂光场下多角度结构数据库； 基于所述目标面的采样点位置以及复杂光场下多角度结构数据库，进行超构表面特性的逆向设计，得到超构表面结构； 所述目标面的采样点位置包括DOE面的采样点坐标和像平面的采样点坐标，利用基于光栅衍射级次的GS算法模型来获取的目标面的采样点位置，包括： 将DOE面的采样点坐标用m 0,n 0表示，DOE面总的采样点数为M*N；其中，m 0和n 0分别为单个光栅周期内离散相位的第m 0行第n 0列，M和N分别为单个光栅周期内对横坐标内的相位离散为M个值与对纵坐标内的相位离散为N个值； 将像平面的采样点坐标用m,n表示，像平面总的采样点数为M*N；其中m和n分别为平面光正入射时二维光栅两个方向的衍射级次； 构建复杂光场下多角度结构数据库，包括： 基于如下函数关系式来描述基于结构参数与调制相位的关系： ； 式中，R为基元结构参数；i为第i个衍射级次；表示第i个衍射级次下，基元结构参数对应的调制相位； 根据所述函数关系式，获得不同入射角度下的纳米柱与相位之间的映射关系；并基于不同入射角度下的纳米柱与相位之间的映射关系来构建复杂光场下多角度结构数据库。

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