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龙图腾网获悉合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储芯片的测试系统及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119559997B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510111871.9，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种存储芯片的测试系统及测试方法是由余玉;许展榕设计研发完成，并于2025-01-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储芯片的测试系统及测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种存储芯片的测试系统及测试方法，其中测试系统包括主机、芯片测试座、第一接口模块、第二接口模块以及桥接芯片模块；芯片测试座上用以安装待测芯片；第一接口模块和第二接口模块用以与主机进行连接；桥接芯片模块用以获取主机写入的测试数据包，并将测试数据包在待测芯片的数据包格式与第一接口模块或第二接口模块的数据包格式之间进行协议转换；桥接芯片模块用以将待测芯片的读写性能调整到不同的读写速度等级，以检测待测芯片的读写性能。本发明通过主机判断测试数据包在经过存储芯片读写后的完整性，从而确定待测芯片对应读写速度的读写性能，以解决传统测试平台无法完全满足迭代后存储芯片的读写性能测试要求的问题。

本发明授权一种存储芯片的测试系统及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种存储芯片的测试系统，其特征在于，包括： 主机； 芯片测试座，用以安装待测芯片； 第一接口模块和第二接口模块，分别支持PCIE协议和USB协议，并分别与所述主机和桥接芯片模块进行连接； 桥接芯片模块，所述桥接芯片模块通过连接到所述芯片测试座实现与所述待测芯片的连接，所述桥接芯片模块获取所述主机发送的测试数据包，将所述测试数据包在所述待测芯片的数据包格式与所述第一接口模块或所述第二接口模块的数据包格式之间进行协议转换后，再将转换后的所述测试数据包写入到所述待测芯片，然后将所述待测芯片中的所述测试数据包读取出来，并对其数据包格式转换后发送至所述主机； 其中，所述主机判断所述主机通过所述第一接口模块或所述第二接口模块发送到所述待测芯片的测试数据包与所述待测芯片通过所述第一接口模块或所述第二接口模块发送到所述主机的测试数据包是否一致，以检测所述待测芯片的读写性能；所述桥接芯片模块根据所述待测芯片的协议版本将所述待测芯片的读写性能调整到对应的读写速度等级，并进行从所述主机发送到所述待测芯片的测试数据包与从所述待测芯片发送到所述主机的测试数据包之间的数据包格式转换，所述桥接芯片模块根据待测芯片的协议版本动态选择接口类型，并基于所选接口类型启用对应的协议转换与速度等级。

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