西安电子科技大学何学辉获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利一种适用于低慢小目标探测的低虚警率检测方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119780870B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510156226.9，技术领域涉及：G01S7/41；该发明授权一种适用于低慢小目标探测的低虚警率检测方法及装置是由何学辉;张紫新;杨永安;李维杰;刘晓月设计研发完成，并于2025-02-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种适用于低慢小目标探测的低虚警率检测方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种适用于低慢小目标探测的低虚警率检测方法及装置，包括：采集含有低慢小目标的点迹数据，从点迹数据中选出无人机目标的点迹集合；使用最小二乘法对点迹集合中每个点迹的实际幅度和实际距离的关系进行拟合得到拟合曲线；拟合过程中将点迹集合中每个点迹的实际幅度作为因变量，将点迹集合中每个点迹的实际距离作为自变量；根据拟合曲线和实际曲线计算点迹集合中每个点迹的残差；所有残差的分布满足正态分布；根据所有残差的正态分布特性计算检测门限曲线的系数；根据拟合曲线和检测门限曲线的系数设计检测门限曲线；使用检测门限曲线进行恒虚警检测。本发明可以更加准确地区分低慢小目标中目标点和杂点，降低了雷达的虚警概率。
本发明授权一种适用于低慢小目标探测的低虚警率检测方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种适用于低慢小目标探测的低虚警率检测方法，其特征在于，所述方法包括： 采集含有低慢小目标的点迹数据，并从所有点迹数据中选出无人机目标的点迹集合；所述点迹集合中每个点迹包括实际幅度和实际距离； 使用最小二乘法，对所述实际幅度和所述实际距离的关系进行拟合，得到拟合曲线；其中，拟合过程中将所述点迹集合中每个点迹的实际幅度作为因变量，将所述点迹集合中每个点迹的实际距离作为自变量，以构建拟合曲线； 根据所述拟合曲线和所述点迹集合对应的实际曲线计算所述点迹集合中每个点迹的残差；其中，所有残差的分布满足正态分布； 根据所有残差的正态分布特性计算检测门限曲线的系数； 根据所述拟合曲线和所述检测门限曲线的系数设计检测门限曲线； 使用所述检测门限曲线进行恒虚警检测。
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