杭州广立微电子股份有限公司王瀚锌获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州广立微电子股份有限公司申请的专利低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120294544B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510766209.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备是由王瀚锌设计研发完成，并于2025-06-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备在说明书摘要公布了：本申请涉及一种低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备，低引脚数芯片测试电路包括：控制模块与测试模块连接，输入输出引脚与功能模块和使能模块连接，使能模块分别与控制模块和测试模块连接；其中，使能模块选通测试模式时，控制模块根据第一测试需求生成独热码，以基于独热码选通测试模块；输入输出引脚根据第一测试需求生成第一测试信号，测试模块响应于第一测试信号生成测试结果；或者，使能模块选通功能模式时，输入输出引脚根据第二测试需求生成第二测试信号，功能模块响应于第二测试信号触发功能测试状态并生成测试结果，解决输入输出引脚数量无法满足芯片测试需求的问题。
本发明授权低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备在权利要求书中公布了：1.一种低引脚数芯片测试电路，其特征在于，包括：输入输出引脚、控制模块、至少两个测试模块、使能模块和功能模块；所述控制模块与所述测试模块连接，所述输入输出引脚与所述功能模块和使能模块连接，所述使能模块分别与所述控制模块和所述测试模块连接，用于选通功能模式和测试模式；其中， 所述使能模块选通测试模式时，所述控制模块根据第一测试需求生成独热码，以基于所述独热码选通所述测试模块；所述输入输出引脚根据所述第一测试需求生成第一测试信号，所述测试模块响应于所述第一测试信号生成测试结果；或者， 所述使能模块选通功能模式时，所述输入输出引脚根据第二测试需求生成第二测试信号，所述功能模块响应于所述第二测试信号触发功能测试状态并生成测试结果。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人杭州广立微电子股份有限公司，其通讯地址为：310013 浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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