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龙图腾网获悉晋城市光机电产业协调服务中心(晋城市光机电产业研究院)申请的专利一种半导体激光器寿命预估方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120293480B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510779701.8，技术领域涉及：G01M11/00；该发明授权一种半导体激光器寿命预估方法及系统是由成磊;鲍亚楠;韦炳兴;李亚东;齐东东;郭麒;李利设计研发完成，并于2025-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种半导体激光器寿命预估方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种半导体激光器寿命预估方法，包括以下步骤，对所述半导体激光器进行光电特性测量，得到光电特性参数集；基于所述光电特性参数集对所述半导体激光器进行应力分析，得到器件应力特征谱；基于所述器件应力特征谱对半导体激光器进行缺陷演化分析，得到缺陷扩展特征图；基于所述缺陷扩展特征图对所述半导体激光器进行性能衰减模拟，得到性能衰减轨迹曲线；基于所述性能衰减轨迹曲线对半导体激光器进行寿命评估，得到寿命预估结果解决了传统的寿命评估方法主要依赖于加速老化实验和统计模型，虽然能够在一定程度上反映器件的老化趋势，但往往周期长、成本高，且难以揭示器件内部失效机制的本质过程的技术问题。

本发明授权一种半导体激光器寿命预估方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种半导体激光器寿命预估方法，其特征在于，包括以下步骤： 对所述半导体激光器进行光电特性测量，得到光电特性参数集； 基于所述光电特性参数集对所述半导体激光器进行应力分析，得到器件应力特征谱，具体包括： 基于所述光电特性参数集对所述半导体激光器进行温度场模拟，得到温度分布数据，并通过有限元分析方法，基于所述温度分布数据对所述半导体激光器进行热应力计算，得到热应力分布数据； 基于所述热应力分布数据对所述半导体激光器进行位错密度分析，得到位错密度分布数据，并基于所述位错密度分布数据，对所述半导体激光器进行应变能密度分析，得到应变能密度分布数据； 基于所述应变能密度分布数据对所述半导体激光器进行界面应力分析，得到界面应力强度数据，并基于所述界面应力强度数据和所述热应力分布数据对所述半导体激光器进行器件应力特征谱构建，得到器件应力特征谱； 当所述器件应力特征谱中界面应力强度超过预设阈值时，则基于所述器件应力特征谱对半导体激光器进行缺陷演化分析，得到缺陷扩展特征图； 基于所述缺陷扩展特征图对所述半导体激光器进行性能衰减模拟，得到性能衰减轨迹曲线，具体包括： 基于所述缺陷扩展特征图对所述半导体激光器进行光场分布模拟，得到光场分布数据，并基于所述光场分布数据对所述半导体激光器进行输出功率模拟，得到输出功率数据； 基于所述输出功率数据对所述半导体激光器进行输出功率衰减率计算，得到输出功率衰减率数据，基于所述缺陷扩展特征图中的界面态能级对所述半导体激光器进行载流子浓度模拟，得到载流子浓度数据； 基于所述载流子浓度数据对所述半导体激光器进行光谱模拟，得到光谱数据，并基于所述光谱数据对所述半导体激光器进行波长漂移量计算，得到波长漂移量数据； 基于所述光场分布数据对所述半导体激光器进行模式稳定性分析，得到模式稳定性指数数据，并基于所述输出功率衰减率数据、所述波长漂移量数据和所述模式稳定性指数数据对所述半导体激光器进行性能衰减轨迹曲线构建，得到性能衰减轨迹曲线； 基于所述性能衰减轨迹曲线对半导体激光器进行寿命评估，得到寿命预估结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人晋城市光机电产业协调服务中心(晋城市光机电产业研究院)，其通讯地址为：048000 山西省晋城市金鼎路双创产业园(光机电加速器)6号楼3层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。