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龙图腾网获悉长春理工大学申请的专利一种太阳直接辐射光谱测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120445406B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510910172.0，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权一种太阳直接辐射光谱测量方法是由张健;王璐;孙景睿;张宇;赵斌;杨松洲;张国玉;何洋;张可;任殿武;杨东澎;彭增设计研发完成，并于2025-07-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种太阳直接辐射光谱测量方法在说明书摘要公布了：一种太阳直接辐射光谱测量方法，属于辐射光谱测量技术领域，为了解决目前的测量系统均依赖于昂贵又复杂的双轴移动跟踪装置，存在维护成本高、传递环节多以及误差大的问题，发明包括以下步骤：设计极轴旋转式太阳直接辐射光谱测量系统的框架、PAR‑SDNSIM优化设计、光谱辐射强度重建与太阳光谱测量精度评估和实验结果分析，本发明构建了一种由SDRCFM和SRMS组成的PAR‑SDNSIM新架构，实现了全年全纬度区间内无需移动跟踪的太阳直接辐射光谱测量，进一步完善了太阳直接辐射光谱测量理论体系。

本发明授权一种太阳直接辐射光谱测量方法在权利要求书中公布了：1.一种太阳直接辐射光谱测量方法，其特征在于，具体步骤如下： S1：设计极轴旋转式太阳直接辐射光谱测量系统的框架； S2：PAR-SDNSIM优化设计； S3：光谱辐射强度重建与太阳光谱测量精度评估； S4：实验结果分析； S1中所述的设计极轴旋转式太阳直接辐射光谱测量系统的框架，具体步骤如下： S101：构建PAR-SDNSIM总体架构； S102：SDRCFM的离散与重构； S103：时空尺度光谱辐射强度重建链路； S101中所述的构建PAR-SDNSIM总体架构，具体步骤如下： S1011：利用极轴旋转跟踪装置抵消太阳方位角变化，并设计能够将不同入射角的太阳直射光束反射进入SRMS的自由曲面面型，使得构建的PAR-SDNSIM总体架构分为SDRCFM和SRMS两部分； S1012：经SDRCFM反射的两分日正午时刻太阳直射光束与此时的入射光束垂直，且反射光束作为SDRCFM的光轴和旋转轴； S1013：分析典型的色散结构，且SRMS选用交叉式Czerny-Turner型色散结构； S1014：PAR-SDNSIM根据其安装地的纬度进行倾斜配置，且SDRCFM光轴垂直经过SRMS的狭缝位置，不同入射角的光束经SDRCFM表面反射调制后，汇聚在SRMS狭缝位置上的光斑区域，此后，经过狭缝的光束通过SRMS的准直反射镜、衍射光栅以及聚焦反射镜，在CCD探测器上形成衍射谱线，进而得到太阳直接辐射光谱分布信息。

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