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龙图腾网获悉天津工业大学申请的专利一种基于光照感知机制的曝光校正方法与系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120451484B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510956129.8，技术领域涉及：G06V10/24；该发明授权一种基于光照感知机制的曝光校正方法与系统是由杨勇;许亚宁;任恒;黄淑英;张龙设计研发完成，并于2025-07-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于光照感知机制的曝光校正方法与系统在说明书摘要公布了：本发明涉及图像处理技术领域，具体公开了一种基于光照感知机制的曝光校正方法与系统，方法包括：获得非均匀曝光图像；生成欠曝光区域、正常曝光区域以及过曝光区域的掩码；非均匀曝光图像通过卷积操作，提取得到初始特征图，所述初始特征图依次通过多次下采样和上采样，得到尺度不同的特征图，然后通过卷积操作得到处理后的特征图，将处理后的特征图与非均匀曝光图像进行融合，得到曝光均匀的图像；对初始特征图和尺度不同的特征图，分别利用掩码进行局部特征提取和全局曝光校正。本发明针对不同区域采取不同的方式进行处理，并强化不同区域之间的感知与信息交互，能够改善不均匀曝光图像的质量，最终生成一幅曝光均匀的图像。

本发明授权一种基于光照感知机制的曝光校正方法与系统在权利要求书中公布了：1.一种基于光照感知机制的曝光校正方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：获得非均匀曝光图像； S2：根据非均匀曝光图像，生成欠曝光区域、正常曝光区域以及过曝光区域的掩码； 步骤S2包括以下步骤： S2.1：计算非均匀曝光图像的三通道的平均值，得到平均值的图，展平为一维向量； S2.2：随机初始化3个聚类中心，计算一维向量的每个像素点与聚类中心之间的欧氏距离，将像素点分配给与其欧氏距离最短的聚类中心，将每个聚类中的所有像素点取平均以更新聚类中心； S2.3：重复步骤S2.2，当新旧聚类中心之间的绝对差异小于预设阈值时，聚类操作终止；得到欠曝光区域、正常曝光区域以及过曝光区域的掩码； S3：非均匀曝光图像通过卷积操作，提取得到初始特征图，所述初始特征图依次通过多次下采样和上采样，得到尺度不同的特征图，然后通过卷积操作得到处理后的特征图，将处理后的特征图与非均匀曝光图像进行融合，得到曝光均匀的图像； 其中，对初始特征图和尺度不同的特征图，分别利用掩码进行局部特征提取和全局曝光校正； 利用掩码进行局部特征提取的具体过程为： S3.11：使用空间注意力，根据输入的特征图，得到增强后的特征； S3.12：根据增强后的特征，通过卷积核生成器为不同的光照区域生成对应的卷积核； S3.13：利用对应的卷积核，对增强后的特征进行光照感知的特征提取，得到不同区域的特征图； S3.14：将不同区域的特征图与相应的掩码相乘，然后相加，得到含有局部特征的特征图； 利用掩码进行全局曝光校正的具体过程为： 对含有局部特征的特征图进行归一化处理，输入光照感知注意力模块，将含有局部特征的特征图作为残差加入光照感知注意力模块的输出中，得到摘要特征；所述光照感知注意力模块用于利用掩码，以正常曝光区域的特征作为引导，校正欠曝光区域与过曝光区域的特征； 对摘要特征进行归一化处理，再通过前馈神经网络，得到精炼后的特征，将精炼后的特征与摘要特征融合，得到输出特征； 光照感知注意力模块的具体过程为： 利用归一化处理后的含有局部特征的特征图，得到Q向量、K向量和V向量，结合掩码，得到不同曝光区域的Q向量、K向量和V向量； 利用正常曝光区域的Q向量，分别与不同曝光区域的K向量和V向量，计算得到不同曝光区域的注意力权重图； 对不同曝光区域的注意力权重图求和，得到最终的权重图。

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