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龙图腾网获悉上海交通大学;合肥国家实验室申请的专利基于弱测量的闭环控制方法、存储介质及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120489353B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510976661.6，技术领域涉及：G01J9/00；该发明授权基于弱测量的闭环控制方法、存储介质及设备是由黄靖正;俞梓;曾贵华;李洪婧设计研发完成，并于2025-07-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于弱测量的闭环控制方法、存储介质及设备在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于弱测量的闭环控制方法、存储介质及设备，可以应用于弱测量技术领域。该方法包括：根据第n‑1周期对待测量进行弱测量得到的多个第n‑1光强对比度，确定待测量在第n‑1周期对应的目标工作区，并根据目标工作区调用对应的目标映射关系集，目标映射关系集表征目标估计相位和目标光强对比度之间的映射关系，因此可以从目标映射关系集中确定与待测量对应的第n‑1估计相位，并根据第n‑1估计相位确定第n测量周期的第n偏置相位，从而利用第n偏置相位的调控补偿待测量的变化，使得第n周期的弱测量得到的第n估计相位能够及时跟随待测量的变化。

本发明授权基于弱测量的闭环控制方法、存储介质及设备在权利要求书中公布了：1.一种基于弱测量的闭环控制方法，其特征在于，包括： 获取与第n测量周期对应的第n偏置相位，包括： 在第n-1测量周期，基于第n-1偏置相位的补偿，对待测量进行弱测量，得到第n-1测量结果； 基于所述第n-1测量结果，从多个映射关系集中确定目标映射关系集，包括： 根据所述第n-1测量周期中的稳定时段和过渡时段，将所述多个第n-1光强对比度划分为判断集和测量集，其中，所述过渡时段为初始偏置相位处于上升沿和处于下降沿的时段，所述稳定时段为第n-1测量周期中除所述过渡时段以外的时段； 根据判断集中的多个第n-1光强对比度的均值和预定阈值，确定所述待测量在所述第n-1测量周期所属的目标工作区； 根据所述目标工作区，从所述多个映射关系集中确定所述目标映射关系集，其中，所述映射关系集表征光强对比度与估计相位之间的映射关系； 基于所述第n-1测量结果，从所述目标映射关系集中确定所述第n-1估计相位，包括： 对于每个所述第n-1光强对比度： 在多个目标映射关系各自的目标光强对比度中存在与所述测量集中的第n-1光强对比度相等的目标光强对比度的情况下，将与所述第n-1光强对比度相等的目标光强对比度对应的目标估计相位作为第一估计相位； 在所述多个目标映射关系各自的目标光强对比度不存在与所述测量集中的第n-1光强对比度相等的目标光强对比度的情况下，根据所述第n-1光强对比度和所述多个目标映射关系，确定待插值映射关系，并根据所述待插值映射关系中的第n-1光强对比度确定第二估计相位； 对多个所述第一估计相位和多个所述第二估计相位进行积分处理，得到所述第n-1估计相位； 叠加所述第n-1估计相位的相反数和初始偏置相位，得到所述第n偏置相位；其中，所述第n偏置相位是根据第n-1估计相位确定的，所述第n-1估计相位是根据第n-1测量结果从待测量在第n-1周期所属的目标工作区对应的目标映射关系集中确定的，所述目标工作区是根据所述第n-1测量结果确定的，所述目标映射关系集表征目标光强对比度与目标估计相位之间的映射关系，所述第n-1测量结果包括多个第n-1光强对比度，n是大于1的整数；以及 在所述第n测量周期，基于所述第n偏置相位的补偿，对所述待测量进行弱测量，得到与第n测量结果对应的第n估计相位。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海交通大学;合肥国家实验室，其通讯地址为：200240 上海市闵行区东川路800号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。