合肥康芯威存储技术有限公司潘慧敏获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储器的测试方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120510903B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510998278.0，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种存储器的测试方法、装置、设备及介质是由潘慧敏;赵啟鹏设计研发完成，并于2025-07-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种存储器的测试方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种存储器的测试方法、装置、设备及介质，测试方法包括：按照预设顺序，依次调整存储器的工作模式；所述工作模式包括HS_SDR模式、HS_DDR模式、HS200模式、HS400模式中的至少两种；在每一种工作模式下，对所述存储器执行数据读写测试，以获取存储器在各种工作模式下所对应的采样周期；通过本发明提供的一种存储器的测试方法、装置、设备及介质，能够测试出存储器在不同工作模式下的采样周期。
本发明授权一种存储器的测试方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种存储器的测试方法，其特征在于，包括： 按照预设顺序，依次调整存储器的工作模式；所述工作模式包括HS_SDR模式、HS_DDR模式、HS200模式、HS400模式中的至少两种； 在每一种工作模式下，对所述存储器执行数据读写测试，以获取存储器在各种工作模式下所对应的采样周期； 其中，在每种工作模式下，对所述存储器执行数据读写测试包括： 根据当前的工作模式下的初始采样周期，对所述存储器执行数据读写测试，并判断测试结果： 在所述测试结果为测试未通过时，按照预设的调整规则对所述初始采样周期进行调整，得到中间采样周期；基于中间采样周期对所述存储器执行数据读写测试，直至所述测试结果为测试通过时为止，并将测试通过对应的中间采样周期作为存储器在当前的工作模式下的采样周期； 在所述测试结果为测试通过时，将所述初始采样周期作为存储器在当前的工作模式下的采样周期。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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