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龙图腾网获悉辽宁隆烨科技有限公司申请的专利电子控制模块元件性能数据的异常检测方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120522496B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511021574.1，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权电子控制模块元件性能数据的异常检测方法和系统是由王亮;井庆文;张星;张赓健;段佳东;刘宇;张峰设计研发完成，并于2025-07-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本电子控制模块元件性能数据的异常检测方法和系统在说明书摘要公布了：本申请提供电子控制模块元件性能数据的异常检测方法和系统。其中，该方法通过非接触电极向电子控制模块元件施加交变电场，采集介电响应的能量损耗、电容变化及极化延迟数据，从中提取离子迁移、分子转向和杂质导电特征；基于加速老化实验构建多频段老化特征库，包括低频延迟、中频转折和高频损耗变化率特征；当检测到低频响应变慢、中频特征左移且高频损耗骤增时，判定元件发生电化学老化，实现精准诊断。本申请通过多频段介电响应特征协同分析，显著提升电子控制模块元件电化学老化异常的检测精度与可靠性。

本发明授权电子控制模块元件性能数据的异常检测方法和系统在权利要求书中公布了：1.电子控制模块元件性能数据的异常检测方法，其特征在于，包括： 采用特定排列的非接触电极组向待测电子控制模块元件的介质施加连续变化电场，同步采集包含能量损耗实部数据、能量损耗虚部数据、电容频率变化数据及极化延迟角度信息的多参数原位介电响应数据集，其中，所述非接触电极组配置为多环同心结构，以确保电场均匀覆盖介质表面； 基于所述多参数原位介电响应数据集中介质介电特性的频率响应规律，结合空间电荷延迟效应解耦提取电极界面离子迁移特征分量、介质本体分子转向特征分量以及杂质离子导电特征分量； 依据所述电子控制模块元件在加速老化实验中电极界面离子迁移特征分量、介质本体分子转向特征分量以及杂质离子导电特征分量的时间响应差异，构建包含低频段时域延迟特征组、中频段频域转折特征集、高频段损耗变化强度率特征的多频段关联老化特征库； 分析采集的电子控制模块元件性能数据在所述多频段关联老化特征库中的多频段轨迹偏移关联模式，当低频时域延迟特征组呈现响应时间延长、中频频域转折特征集发生特征位置向低频方向偏移且高频损耗变化强度率特征出现数值陡增三种现象协同出现时，判定电子控制模块元件发生电化学老化异常； 基于所述多参数原位介电响应数据集中介质介电特性的频率响应规律，结合空间电荷延迟效应解耦提取电极界面离子迁移特征分量、介质本体分子转向特征分量以及杂质离子导电特征分量，包括： 从所述多参数原位介电响应数据集提取频率响应曲线，所述频率响应曲线以频率为横轴，并分别绘制能量损耗实部数据、能量损耗虚部数据、电容频率变化数据及极化延迟角度信息作为纵轴，在所述频率响应曲线中识别低频段、中频段和高频段的特征点，其中低频段对应第一频率范围，中频段对应第二频率范围，高频段对应第三频率范围，且各频段范围基于介质材料属性预设； 针对所述低频段，通过分析极化延迟角度信息随频率的变化趋势，结合空间电荷延迟效应引起的响应滞后现象，分离出以延迟时间为主要指标的电极界面离子迁移特征分量； 针对所述中频段，通过拟合电容频率变化数据的转折点位置，结合空间电荷延迟效应引起的相位偏移，分离出以角度变化率为主要指标的介质本体分子转向特征分量； 针对所述高频段，通过计算能量损耗实部数据与能量损耗虚部数据的比值变化，结合空间电荷延迟效应引起的衰减特性，分离出以强度变化量为主要指标的杂质离子导电特征分量。

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