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龙图腾网获悉杭州电子科技大学申请的专利一种基于双探针的主轴回转误差测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115218791B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210842290.9，技术领域涉及：G01B11/02；该发明授权一种基于双探针的主轴回转误差测量方法是由王文;方威;吕天硕;岳树清;陈占锋;时光;杨贺;王传勇;卢科青设计研发完成，并于2022-07-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于双探针的主轴回转误差测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于双探针的主轴回转误差测量方法。该方法如下：一、在被测主轴上同轴安装柱状样本。沿柱状样本径向布置探针装置；两个探针装置同时在轻敲模式下进行数据采集后，再同时在接触模式下进行数据采集。在轻敲模式的数据采集中，被测主轴转动多周，获取多组位移数据。在接触模式下，被测主轴转动一周，在被测主轴上留下刻划痕迹。二、根据位移数据计算主轴的倾角误差；三、根据刻划痕迹获得被测主轴的轴向误差。本发明通过探针刻划功能，得到径向位移数据以及刻划痕迹，配合相应的计算，能够同时测得被测主轴倾角误差、径向误差和轴向误差，由此能够精准评估被测主轴的回转精度。

本发明授权一种基于双探针的主轴回转误差测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于双探针的主轴回转误差测量方法，其特征在于：包括以下步骤： 步骤一、在被测主轴上同轴安装柱状样品；沿柱状样品上的两个数据采集位置径向布置两个探针装置；该探针装置有两种工作模式，分别为轻敲模式和接触模式；轻敲模式下，探针装置中的探针抵住柱状样品并进行振动，通过接触信号读取位移信息；接触模式下，探针装置中的探针抵住柱状样品，并施加压力对柱状样品进行刻划，并读取位移数据；两个探针装置同时在轻敲模式下进行数据采集后，再同时在接触模式下进行数据采集；在轻敲模式的数据采集中，被测主轴转动多周，获取多组位移数据；在接触模式下，被测主轴转动一周； 轻敲模式下的探针装置获得的数据为径向位移数据，为被测主轴的相位；接触模式下的探针装置的针尖在柱状样品上会留下一条刻划痕迹；获得两组径向位移数据，分别记为、，以及两条刻划痕迹； 步骤二、计算主轴的倾角误差如下： ； 其中，、分别为柱状样品在两个数据采集位置的安装偏心及圆度误差；为两个数据采集位置的轴向距离； 步骤三、对样品刻划表面进行扫描后读取刻划痕迹，得到刻划图像；以刻划图像上的轨迹沿主轴轴向方向的位移作为被测主轴的轴向误差。

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