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龙图腾网获悉浙江欣旺达电子有限公司申请的专利虚焊缺陷检测方法及检测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115326919B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211024622.9，技术领域涉及：G01N27/90；该发明授权虚焊缺陷检测方法及检测系统是由夏科;樊增虎;谢成涛;李武岐设计研发完成，并于2022-08-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本虚焊缺陷检测方法及检测系统在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了提供一种虚焊缺陷检测方法及检测系统，所述虚焊缺陷检测方法基于涡流锁相热成像技术对待测试件的焊接层内的虚焊缺陷区域进行检测，以不同频率的交流信号，调制锁相涡流加热待测试件，有效抑制材料复杂，材质表面发射率不一致的影响，热成像仪成像更清晰，检测深度更大，适用性更广。

本发明授权虚焊缺陷检测方法及检测系统在权利要求书中公布了：1.一种虚焊缺陷检测方法，用以检测待测试件内的焊接层，其特征在于，所述虚焊缺陷检测方法包括如下步骤： S1提供高频交变电流，通过低频锁相信号对所述高频交变电流进行幅度调制，产生周期变化的电流信号； S2将感应线圈布置于所述待测试件的第一表面背离第二表面的一侧，将所述周期变化的电流信号进行功率放大后供应至所述感应线圈，使得所述感应线圈产生周期变化的感应磁场； S3根据所述感应线圈产生的周期变化的感应磁场，所述待测试件产生频率变化的锁相涡流以加热所述待测试件； 部分所述锁相涡流在所述待测试件内部转化为热能以加热所述待测试件，所述锁相涡流在所述待测试件内部产生的热量为Q1； S4收集供应时长内所述待测试件远离所述感应线圈一面的温度数据，所述供应时长为向所述感应线圈供应所述周期变化的电流信号的时长； 当所述待测试件的焊接层内存在虚焊缺陷区域时，所述待测试件远离所述感应线圈一面与虚焊缺陷区域相对应的区域的温度为T1，所述待测试件远离所述感应线圈一面与正常焊接区域相对应的区域的温度为T2，T1＜T2； 当T1与T2的差值达到最大值时，停止向所述感应线圈供应电流信号； 所述锁相涡流在所述待测试件内部产生的热量Q1由所述待测试件的靠近所述感应线圈一面向远离所述感应线圈的方向传递，传递至所述待测试件远离所述感应线圈一面的热量为Q2； 所述待测试件包括层叠设置的第一层和第二层，所述第一层和所述第二层的相对面焊接形成所述焊接层，所述的供应时长为tr, Lr为所述待测试件的第一层与所述焊接层的厚度之和，α为所述待测试件的热扩散系数； S5通过傅里叶变换处理所述温度数据，形成幅值图和相位图； S6将所述幅值图和所述相位图与所述待测试件的正常焊接区域的幅值图和相位图进行比对。

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