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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利一种关于半导体生产数据的处理方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115495493B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211292741.2，技术领域涉及：G06F16/2457；该发明授权一种关于半导体生产数据的处理方法及装置是由王晓设计研发完成，并于2022-10-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种关于半导体生产数据的处理方法及装置在说明书摘要公布了：本申请公开了一种关于半导体生产数据的处理方法及装置，用以实现生成并输出半导体测试项目的测试结果对应的影响因素的推荐报告，从而缩小半导体生产数据的浏览范围，提高对影响半导体测试项目的测试结果的数据的查阅速度，进而提高工作效率。本申请提供的所述方法，包括：生成半导体测试项目的测试结果对应的第一推荐报告和或第二推荐报告；其中，所述第一推荐报告是基于相关系数生成的推荐报告，所述相关系数是指半导体测试项目的测试结果和产生该测试结果的原因之间的相关系数，所述原因包括半导体生产数据；所述第二推荐报告是基于用户查询半导体生产数据的频率生成的推荐报告；输出所述第一推荐报告和或所述第二推荐报告。

本发明授权一种关于半导体生产数据的处理方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种关于半导体生产数据的处理方法，其特征在于，所述方法包括： 生成半导体测试项目的测试结果对应的第一推荐报告和第二推荐报告；其中，所述第一推荐报告是基于相关系数生成的推荐报告，所述相关系数是指半导体测试项目的测试结果和产生该测试结果的原因之间的相关系数，所述原因包括半导体生产数据；所述第二推荐报告是基于用户查询半导体生产数据的频率生成的推荐报告； 输出所述第一推荐报告和所述第二推荐报告； 其中，生成所述第一推荐报告包括： 确定所述测试结果与多类原因之间的相关系数，并按照相关系数对所述多类原因进行排序； 从排序结果中取多类原因用于生成所述第一推荐报告，其中选取的原因对应的相关系数超过预设阈值； 生成所述第二推荐报告包括： 根据用户查询半导体生产数据的日志记录，将用户查询半导体生产数据的用户行为分为监控类和探索类； 分别针对所述监控类和所述探索类的用户行为进行频率统计； 根据针对所述监控类和所述探索类的用户行为进行频率统计的统计结果，针对同一标识所表示的半导体生产数据的用户查询频率进行统计，生成半导体测试项目的测试结果对应的用户行为频率统计结果； 取用户行为频率大于预设阈值的用户行为频率统计结果，生成所述第二推荐报告。

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