达迩科技(成都)有限公司;上海凯虹科技电子有限公司;上海凯虹电子有限公司南江获国家专利权
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龙图腾网获悉达迩科技(成都)有限公司;上海凯虹科技电子有限公司;上海凯虹电子有限公司申请的专利一种检验组件及其半导体器件的视检装置获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223332909U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202422164487.9,技术领域涉及:G01N21/88;该实用新型一种检验组件及其半导体器件的视检装置是由南江;杨亚平设计研发完成,并于2024-09-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种检验组件及其半导体器件的视检装置在说明书摘要公布了:本实用新型公开了一种检验组件及其半导体器件的视检装置,涉及器件检验技术领域,半导体器件的视检装置,包括:底座,其中一面具有可用于固定编带并提供编带穿过的凹槽,编带内置有半导体器件,底座上并列设有至少两个不同尺寸的凹槽,以供不同宽度尺寸的编带穿过;盖板,其可翻转的盖设在底座上,以防止编带脱离对应的凹槽,且盖板上设有视检窗口。由于底座上设有至少两个不同尺寸的凹槽,以适用于不同宽度尺寸的编带穿过进行检验操作,因此,本装置可将两种不同宽度尺寸的编带集中在一个机构上进行检验,方便操作人员使用,且可实现不同宽度尺寸编带的兼容性。也即本装置是一种可对至少两种不同宽度的编带进行检验的装置。
本实用新型一种检验组件及其半导体器件的视检装置在权利要求书中公布了:1.一种半导体器件的视检装置,其特征在于,包括: 底座(1),其中一面具有可用于固定编带并提供所述编带穿过的凹槽(11),所述编带内置有半导体器件,所述底座(1)上并列设有至少两个不同尺寸的所述凹槽(11),以供不同宽度尺寸的所述编带穿过; 盖板(2),其可翻转的盖设在所述底座(1)上,以防止所述编带脱离对应的所述凹槽(11),且所述盖板(2)上设有视检窗口(23)。
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