苏州佳世达光电有限公司;佳世达科技股份有限公司王圣文获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州佳世达光电有限公司;佳世达科技股份有限公司申请的专利一种集成电路板测试装置获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223333116U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202422337256.3,技术领域涉及:G01R31/28;该实用新型一种集成电路板测试装置是由王圣文设计研发完成,并于2024-09-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种集成电路板测试装置在说明书摘要公布了:本实用新型提供的集成电路板测试装置,包括下座组件、上座组件及转接长探针。下座组件包括下托座,穿设于下托座的第一短探针,及设置于下托座下方的测试电路板,上座组件包括上座,穿设于上座的第二短探针,及设置于上座上方的转接电路板。转接长探针穿设于上座及下托座的二者之一。下座组件与上座组件配合夹置待测电路板,第一短探针耦接导通待测电路板的第一金手指和测试电路板,第二短探针耦接导通待测电路板的第二金手指和转接电路板,转接长探针耦接导通转接电路板及测试电路板。如此,测试电路板与转接电路板通过转接长探针电耦接,二者的连接方式更加简单、且易于分离,利于高效地测试具有双面金手指的集成电路板。
本实用新型一种集成电路板测试装置在权利要求书中公布了:1.一种集成电路板测试装置,其特征在于,待测电路板的下表面和上表面分别具有多个第一金手指及多个第二金手指;该测试装置包括: 下座组件,包括:下托座,穿设于该下托座的第一短探针,及设置于该下托座下方的测试电路板; 上座组件,包括:上座,穿设于该上座的第二短探针,及设置于该上座上方的转接电路板;以及 转接长探针,该转接长探针穿设于该上座及该下托座的二者之一; 其中,该下座组件与该上座组件配合夹置该待测电路板,该第一短探针耦接导通该第一金手指和该测试电路板,该第二短探针耦接导通该第二金手指和该转接电路板,该转接长探针耦接导通该转接电路板及该测试电路板。
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