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龙图腾网获悉河北大学申请的专利一种基于透射电镜图像的单成分大气颗粒厚度测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119394196B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411653740.5，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权一种基于透射电镜图像的单成分大气颗粒厚度测量方法是由刘佳;段羿含;尹博;韩金保设计研发完成，并于2024-11-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于透射电镜图像的单成分大气颗粒厚度测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于透射电镜图像的单成分大气颗粒厚度测量方法。该方法包括如下步骤：S1.制造标准颗粒参照组，对大气中待测颗粒物进行采集，获取标准颗粒以及待测颗粒的TEM图像；S2.采用ImageJ分析透射电镜图像，得到基准灰度值；S3.获取标准颗粒不同粒径灰度，除去基准灰度值后取绝对值；S4.建立标准颗粒粒径与灰度绝对值的函数关系；S5.对待测颗粒物进行分区，并计算分区内颗粒灰度值去除基准灰度值后的绝对值；S6.将各分区内颗粒灰度值绝对值代入标准颗粒粒径与灰度绝对值的函数中，计算得到各分区颗粒的厚度。本发明通过将颗粒物TEM图像灰度值变化与不同粒径标准颗粒相关联，进而可快速便捷地获取单成分大气颗粒厚度。

本发明授权一种基于透射电镜图像的单成分大气颗粒厚度测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于透射电镜图像的单成分大气颗粒厚度测量方法，其特征是，包括如下步骤： S1.准备标准颗粒：制备不同粒径的球形颗粒样品水溶液，经稀释超声后将球形颗粒样品水溶液滴到铜网上；标准颗粒为碳球和二氧化硅颗粒； S2.对标准颗粒进行透射电镜测试，根据其透射电镜图像获得标准颗粒灰度绝对值；标准颗粒灰度绝对值是由标准颗粒灰度值减去铜网碳膜基准灰度值后取绝对值而获得； S3.根据标准颗粒粒径与灰度绝对值建立直角坐标系，绘制标准颗粒粒径与其对应灰度绝对值的散点图，通过拟合获得建立标准颗粒粒径与其对应灰度绝对值间的函数关系曲线； S4.使用气溶胶单颗粒采样器对空气中颗粒物进行采集，通过把含有颗粒物的气流引入热扩散器中，使热扩散器设置预设温度以除去颗粒物表面的杂质成分，再使待测颗粒物附着到铜网上； S5.利用透射电子显微镜对铜网上附着的待测颗粒物进行分析，并识别出待测颗粒物中的黑碳和灰尘，保存各自对应的透射电镜图像； S6.对黑碳和灰尘的透射电镜图像分别进行分区； S7.读取黑碳和灰尘的透射电镜图像上每一分区内单成分颗粒的灰度值，再减去铜网碳膜基准灰度值后取绝对值； S8.将每一分区内单成分颗粒的灰度绝对值，代入到对应成分的标准颗粒的粒径与灰度绝对值间的函数关系中，计算得到每一分区内单成分颗粒的厚度值。

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