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龙图腾网获悉中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利一种内窥式的等离子体单色光分析系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119573881B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411800222.1，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权一种内窥式的等离子体单色光分析系统是由丁芳;周海山;胡振华;杨钟时;罗广南设计研发完成，并于2024-12-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种内窥式的等离子体单色光分析系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种内窥式的等离子体单色光分析系统，属于磁约束等离子体领域。该系统由多套光学透镜组、柔性光纤阵列、窄带滤光片、二相色镜、分光镜、光学探测器、指示光源和位置调节电机组成。前端反射镜通过转动，将不同位置的等离子体发射光传送至收集透镜，聚焦于光纤阵列端面。利用柔性光纤阵列将复杂结构内部的等离子体发射光引出至低辐射区域。光纤阵列引出的光被一组远心镜头转成平行光后穿过特定波长的窄带滤光片，再通过会聚透镜成像于光学探测器上，获取特定波长的等离子体单色光的空间分布和时间演化信息。根据本发明技术方案，可以满足远程采集和分析等离子体二维光谱特征的需求。

本发明授权一种内窥式的等离子体单色光分析系统在权利要求书中公布了：1.一种内窥式等离子体单色光分析系统，其特征在于，包括以下部件：第一位置调节电机（1）、第二位置调节电机（2）、第三位置调节电机（3）、第四位置调节电机（4）、第一反射镜（5）、收集镜头（6）、光纤阵列（7）、指示光纤（8）、指示光源（9）、远心准直镜头（10）、第一分束镜（11）、第二分束镜（12）、第一窄带滤光片（13）、第一会聚透镜（14）、第一光学探测器（15）、第二反射镜（16）、第三反射镜（17）、半透光屏（18），各部件的位置关系如下： 指示光源（9）开启后，通过指示光纤（8）将指示光传送至光纤阵列（7）的右侧出口位置，经过远心准直镜头（10）后成为平行光束，第一分束镜（11）和第二分束镜（12）将平行光束路径中两个位置的部分光束导出，在经过第二反射镜（16）和第三反射镜（17）后照射在半透光屏（18）的两侧，其中，对比半透光屏（18）两侧的光斑尺寸能够判断光束的锥角，通过第三位置调节电机（3）调节光纤阵列（7）的右侧出口位置来改变光束的锥角，直至锥角为0，获得平行光束； 平行光束经过第一窄带滤光片（13）后成为单色光，由第一会聚透镜（14）成像于第一光学探测器（15）的感光芯片上，通过第四位置调节电机（4）调节第一光学探测器（15）的位置，获得最佳清晰成像； 完成光学准直和聚焦调节且关闭指示光源（9）后，利用第一位置调节电机（1）将第一反射镜（5）转向目标等离子体，第一反射镜（5）收集到的等离子体光经过收集镜头（6）后成像在光纤阵列（7）的左侧入口位置，由光纤阵列（7）传到其右侧出口位置，再经过远心准直镜头（10）转成平行光束，平行光束通过第一窄带滤光片（13）后成为单色光束，经过第一会聚透镜（14）成像于第一光学探测器（15），获得单色光的二维图像信息，其中通过第二位置调节电机（2）调节光纤阵列（7）的左侧入口位置，能够进一步调节成像的清晰度。

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