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龙图腾网获悉散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所申请的专利一种基于正交狭缝的束流四维发射度测量仪及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119738864B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411937711.1，技术领域涉及：G01T1/29；该发明授权一种基于正交狭缝的束流四维发射度测量仪及测量方法是由杨仁俊;陈伟文;穆罕默德·阿卜杜勒·拉赫曼;徐智虹;刘仁洪;李芳;黄蔚玲;邱瑞阳;曾磊;田建民设计研发完成，并于2024-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于正交狭缝的束流四维发射度测量仪及测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于正交狭缝的束流四维发射度测量仪及测量方法，带电粒子束从第一狭缝板远离第二狭缝板一侧入射至狭缝组件，带电粒子束经第一狭缝透射后形成第一束流团至第二狭缝板，第一束流团经第二狭缝透射后形成第二束流团至荧光采集组件；荧光采集组件包括荧光屏和图像采集模块，荧光屏用于接收第二束流团并产生荧光，图像采集模块用于采集第二束流团轰击荧光屏发射的荧光图案，数据处理组件用于根据荧光图像计算束流的相空间分布，根据相空间分布测量带电粒子束的发射度。本发明提供的束流四维发射度测量仪通过正交方向的狭缝对束流进行分割可以获得更加完整的四维相空间分布，从而增加束流发射度的测量完整度和精度。

本发明授权一种基于正交狭缝的束流四维发射度测量仪及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于正交狭缝的束流四维发射度测量仪，其特征在于，包括狭缝组件、荧光采集组件和数据处理组件； 所述狭缝组件包括沿第一方向层叠设置的第一狭缝板和第二狭缝板，所述第一狭缝板包括第一狭缝；所述第二狭缝板包括第二狭缝，所述第一狭缝沿第二方向延伸，所述第二狭缝沿第三方向延伸，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向两两垂直，所述第一方向与所述第一狭缝板所在平面垂直； 带电粒子束从所述第一狭缝板远离所述第二狭缝板一侧入射至所述狭缝组件，所述带电粒子束经所述第一狭缝透射后形成第一束流团至所述第二狭缝板，所述第一束流团经所述第二狭缝透射后形成第二束流团至所述荧光采集组件； 所述荧光采集组件和所述数据处理组件电连接，所述荧光采集组件包括荧光屏和图像采集模块，所述荧光屏用于接收所述第二束流团并产生荧光，所述图像采集模块用于采集所述第二束流团轰击荧光屏发射的荧光图像，所述数据处理组件用于根据所述荧光图像计算所述束流的相空间分布，根据所述相空间分布测量所述带电粒子束的发射度。

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