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龙图腾网获悉上海科技大学申请的专利一种高分辨共轴速度成像装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119804620B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411948074.8，技术领域涉及：G01N27/64；该发明授权一种高分辨共轴速度成像装置是由廖剑峰;黄健业;封云飞;吴可非;金鑫;朱文韬;吴睿昌;刘小井设计研发完成，并于2024-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高分辨共轴速度成像装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种高分辨共轴速度成像装置，涉及能谱分析设备领域。本发明所提供的高分辨共轴速度成像装置包括分析腔体、气体进样机构、真空机构、静电透镜和图像采集机构；分析腔体的一端设有适于让激光通过的进光视窗，图像采集机构穿过分析腔体的一端并与分析腔体的内腔相连通；气体进样机构和真空机构均设于分析腔体的侧壁上且均与分析腔体的内腔连通，静电透镜设于分析腔体的内腔中。本发明中的激光的光路、静电透镜和图像采集机构位于同一轴线上，该轴线通常为分析腔体的中轴线，并且电极片中还设有反射镜以反射激光，能够直接获得电子或者离子在极化平面上的动量分布图像。

本发明授权一种高分辨共轴速度成像装置在权利要求书中公布了：1.一种高分辨共轴速度成像装置，其特征在于：包括分析腔体（1）、气体进样机构（2）、真空机构（3）、静电透镜和图像采集机构（4）； 所述分析腔体（1）的一端设有适于让激光通过的进光视窗（11），所述图像采集机构（4）穿过分析腔体（1）的一端并与分析腔体（1）的内腔相连通；所述气体进样机构（2）和真空机构（3）均设于分析腔体（1）的侧壁上且均与分析腔体（1）的内腔连通，所述静电透镜设于分析腔体（1）的内腔中； 所述静电透镜包括沿分析腔体（1）的轴向依次设置的第一电极片组（EpG1）、第二电极片组（EpG2）和第三电极片组（EpG3），所述第一电极片组（EpG1）靠近进光视窗（11）；所述第一电极片组（EpG1）、第二电极片组（EpG2）和第三电极片组（EpG3）均包括多个电极片（Ep），每个所述电极片（Ep）中均设有通孔； 所述气体进样机构（2）包括依次连接的气瓶（21）、进气管组件（22）和空心针（23），所述空心针（23）位于第二电极片组（EpG2）中的两个电极片（Ep）之间； 所述第二电极片组（EpG2）中靠近第三电极片组（EpG3）的电极片（Ep）的通孔中还设有金属网，所述金属网上还设有反射镜（5）；所述激光的光路、反射镜（5）和图像采集机构（4）位于同一条轴线上； 所述第一电极片组（EpG1）包括N个电极片（Ep），所述第一电极片组（EpG1）用于保护匀强电场；所述第二电极片组（EpG2）包括M个电极片（Ep），所述第二电极片组（EpG2）用于形成匀强电场；所述第三电极片组（EpG3）包括P个电极片（Ep），所述第三电极片组（EpG3）用于形成漂移电场；其中N、M和P之间满足下列关系 所述第一电极片组（EpG1）包括2个电极片（Ep），分别为1号电极片（Ep）和2号电极片（Ep）。

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