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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利一种芯片的时钟失效监测功能的验证方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120162204B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510646798.5，技术领域涉及：G06F11/26；该发明授权一种芯片的时钟失效监测功能的验证方法和装置是由黄中铠;罗永震;曲晨冰;侯波;王力纬;孙宸;王梓扬;陈义强设计研发完成，并于2025-05-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片的时钟失效监测功能的验证方法和装置在说明书摘要公布了：本申请涉及一种芯片的时钟失效监测功能的验证方法和装置，涉及芯片技术领域。所述方法包括：控制信号发生器进行时钟故障参数配置，以生成时钟故障；在确定所述芯片正常运行，且确定所述芯片允许故障注入情况下，控制所述信号发生器向所述芯片注入所述时钟故障，以及向所述芯片发送确认同步信号，以使所述芯片配置时钟失效监测功能以进行时钟失效监测；根据所述芯片反馈的时钟失效监测结果，确定所述时钟失效监测功能的验证结果；其中，所述时钟失效监测结果包括存储器固定地址值和时钟失效中断标志。采用本方法能够实现对芯片的时钟失效监测功能的全部功能点进行全面覆盖的验证。

本发明授权一种芯片的时钟失效监测功能的验证方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种芯片的时钟失效监测功能的验证方法，其特征在于，所述方法包括： 在预先设定的故障参数取值范围内获取参数值，并将所述参数值发送至信号发生器，以使所述信号发生器按照所述参数值进行时钟故障参数配置，以生成时钟故障；其中，所述故障参数包括频率和高低电平中的至少一种； 在本次故障注入为首次故障注入的情况下，确定所述芯片正常运行； 在本次故障注入为非首次故障注入的情况下，若上一次故障注入的事件标志标识正常事件，且上一次故障注入过程中所述芯片反馈的存储器固定地址值为正常值，则确定所述芯片正常运行；其中，所述正常值是指定次故障注入过程中所述芯片反馈的存储器固定地址值与设定数值之和，所述指定次故障注入是所述上一次故障注入的上一次故障注入； 在确定芯片正常运行的情况下，向所述芯片发送开始指令，并接收到所述芯片响应所述开始指令发送的同步请求信号的情况下，确定所述芯片允许故障注入；其中，所述开始指令用于指示允许所述芯片请求故障注入，所述同步请求信号用于指示所述芯片请求故障注入； 控制所述信号发生器向所述芯片注入所述时钟故障，以及向所述芯片发送确认同步信号，以使所述芯片配置时钟失效监测功能以进行时钟失效监测； 根据所述芯片反馈的时钟失效监测结果，确定本次故障注入的事件标志，以得到所述时钟失效监测功能的验证结果；其中，所述事件标志用于标识本次故障注入所导致的时钟失效事件；所述时钟失效监测结果包括存储器固定地址值和时钟失效中断标志。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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