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龙图腾网获悉上海纳琳威科技股份有限公司申请的专利基于数据分析的薄膜光谱门锁管理系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120448711B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510919109.3，技术领域涉及：G06F18/10；该发明授权基于数据分析的薄膜光谱门锁管理系统及方法是由付高辉;艾鹏俊;陈维设计研发完成，并于2025-07-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于数据分析的薄膜光谱门锁管理系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于数据分析的薄膜光谱门锁管理系统及方法，涉及数据分析技术领域，本方法包括以下步骤：步骤1、收集同批次完好薄膜光谱数据、扰动光谱样本及对应环境参数；步骤2、对光谱数据进行去噪平滑、基线校正、导数运算及归一化处理；步骤3、提取光谱关键特征构建向量，合并后用非负矩阵分解为基底和系数矩阵；步骤4、分别计算完好与扰动阈值，利用环境参数和系数偏移构建回归模型；步骤5、采集实时光谱与环境参数，预处理后投影求解系数向量，动态调整判定基准并决策。本方法能够有效改善现有技术中薄膜光谱门锁管理主要依靠固定阈值，针对扰动和环境变化难以适应的情况。

本发明授权基于数据分析的薄膜光谱门锁管理系统及方法在权利要求书中公布了：1.基于数据分析的薄膜光谱门锁管理方法，其特征在于：该方法包括以下步骤： 步骤1、收集同批次完好薄膜光谱数据、扰动光谱样本及对应环境参数； 步骤2、对光谱数据进行去噪平滑、基线校正、导数运算及归一化处理； 步骤3、提取光谱关键特征构建向量，合并后用非负矩阵分解为基底和系数矩阵； 步骤4、分别计算完好与扰动阈值，利用环境参数和系数偏移构建回归模型； 步骤5、采集实时光谱与环境参数，预处理后投影求解系数向量，动态调整判定基准并决策； 在步骤4中，计算完好阈值R0：对完好样本的系数向量{hj 0}j=1 P，计算质心μ0和协方差矩阵Σ0，定义完好阈值：R0=α·λmaxΣ012； 其中，P表示同批次完好薄膜在设定标准环境下的光谱数据数量；α表示经验常数，λmaxΣ0表示协方差矩阵Σ0的最大特征值； 计算扰动阈值R1：计算所有扰动样本系数向量与μ0的最大距离：R1=maxj=P+1 N||hj-μ0||2；其中，N=P+Σq=1 QNq；Q表示扰动类别数量；q∈{1,2,…,Q}，Nq表示第q类扰动对应的样本个数； 利用环境参数集E和对应的系数偏移Δh=h-μ0，构建回归模型：Δh=fE； 其中，f表示映射函数； 在步骤5中，当门锁触发识别流程时，采集当前薄膜的光谱数据Snew，同步获取实时环境参数Enew； 对于采集到的薄膜的光谱数据Snew，执行预处理流程得到特征向量Dnew； 将预处理后的特征向量Dnew投影到基底矩阵W上，设定优化问题：hnew=argminh∥Dnew−W⋅h∥2 2，求解得到实时系数向量hnew； 根据实时环境参数Enew，预测系数偏移：Δh’=fEnew，并动态调整判定基准：μnew=μ0+Δh’；同时，分别对完好阈值和扰动阈值进行调整：R0′=R0⋅1+β⋅∥Enew−E0∥、R1′=R1⋅1+γ⋅∥Enew−E0∥； 其中，E0为标准环境参数，β和γ为环境敏感系数； 计算调整后的距离：d=∥hnew−μnew∥2；根据距离进行状态判定：当d≤R0′时，判定为正常薄膜，允许开锁；当R0′d≤R1′时，判定为受扰动薄膜，触发预警但允许开锁；当dR1′时，判定为非法薄膜，拒绝开锁并触发报警。

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