华翊博奥(北京)量子科技有限公司郭伟轩获国家专利权
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龙图腾网获悉华翊博奥(北京)量子科技有限公司申请的专利一种波长计及其测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120445431B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510927646.2，技术领域涉及：G01J9/02；该发明授权一种波长计及其测量方法是由郭伟轩;杨蒿翔;蔡明磊;周凡;曹明明设计研发完成，并于2025-07-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种波长计及其测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种波长计及其测量方法，该波长计包括：分束器件，将待测激光分为两路，分别输入至Fizeau干涉仪和FP干涉仪；Fizeau干涉仪，用于输出粗测波长范围；FP干涉仪，用于在粗测波长范围内进行波长精测；第一光电探测器和第二光电探测器，分别检测FP干涉仪的透射光强和反射光强；调谐装置，用于调节FP干涉仪的腔长或待测激光的频率，以消除波长测量中的多值模糊性；控制与计算单元，根据第一光电探测器和第二光电探测器的光强比值、调谐装置的调节量及预先校准的响应曲线，确定待测激光的唯一波长值。该方法可以实现数百THz的测量范围，精度达到10‑9以上的波长测量，并且相较Fizeau干涉仪对环境温度和振动不敏感。
本发明授权一种波长计及其测量方法在权利要求书中公布了：1.一种波长计的测量方法，其特征在于，包括以下步骤： S1.将待测激光分为两路，分别输入至Fizeau干涉仪和FP干涉仪； S2.利用所述Fizeau干涉仪对激光波长进行粗测，确定其波长位于FP干涉仪的一个自由光谱范围内； S3.通过光电探测器分别检测FP干涉仪的透射光强和反射光强，并计算两者的光强比值； S4.调节所述FP干涉仪的腔长或所述待测激光的频率，获取所述光强比值随调节量的变化方向； S5.根据所述光强比值、所述变化方向及预先校准的响应曲线，确定所述待测激光的唯一波长值；所述响应曲线为：A与B的映射关系；A为干涉仪的透射光强与反射光强的比值，B为波长。
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