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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利固态硬盘质量测试方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120472973B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510956531.6，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权固态硬盘质量测试方法、装置、设备及存储介质是由刘迎;王玉萍设计研发完成，并于2025-07-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本固态硬盘质量测试方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种固态硬盘质量测试方法、装置、设备及存储介质，涉及计算机技术领域，包括获取温控设备的控制参数的当前运行值，轮询采集待测试的固态硬盘的实时温度，将控制参数的当前运行值和固态硬盘的实时温度输入至策略优化模型中，得到温控调节指令，根据温控调节指令，调节温控设备的输出温度，进而使得固态硬盘的温度维持在目标测试温度，完成质量测试，实现了全自动化的固态硬盘温度调节，解决了人工手动操作易造成测试过程中温度控制不精准，固态硬盘温度不均匀，导致最终测试结果准确性低的技术问题，达到了提高温度控制的精准度，提高固态硬盘的温度均匀性，从而提高质量测试结果的准确性的技术效果。

本发明授权固态硬盘质量测试方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种固态硬盘质量测试方法，其特征在于，包括： 获取待测试的固态硬盘的测试脚本和测试条件，其中所述测试条件包括目标测试温度和测试时长； 下发所述测试脚本至所述固态硬盘，以使所述固态硬盘运行所述测试脚本； 在所述测试脚本运行过程中，按照第一预设周期轮询采集所述固态硬盘的实时温度； 实时监测所述实时温度与所述目标测试温度的差值是否超过预设的温度偏差阈值； 在监测到所述实时温度与所述目标测试温度的差值超过预设的温度偏差阈值时，获取温控设备的一项或多项控制参数的当前运行值，其中所述控制参数用于调节所述温控设备的输出温度，其中所述温控设备用于为所述固态硬盘提供温度环境； 将所述固态硬盘的实时温度、所述目标测试温度和所述一项或多项控制参数的当前运行值输入至策略优化模型中，输出温控调节指令； 根据所述温控调节指令，调节所述温控设备的所述一项或多项控制参数的运行值； 在所述测试脚本的测试时间满足所述测试时长时，停止所述固态硬盘运行所述测试脚本，完成所述固态硬盘的质量测试。

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