河北工业大学白雪获国家专利权
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龙图腾网获悉河北工业大学申请的专利基于采样-成像双阶压缩感知的激光超声缺陷成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120490294B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510984430.X，技术领域涉及：G01N29/06；该发明授权基于采样-成像双阶压缩感知的激光超声缺陷成像方法是由白雪;胡宁;赵丽滨;许波;邵飞;陈一唯设计研发完成，并于2025-07-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于采样-成像双阶压缩感知的激光超声缺陷成像方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于采样‑成像双阶压缩感知的激光超声缺陷成像方法，涉及激光超声检测、材料缺陷检测技术领域，包括通过随机稀疏采样策略对待测样品进行稀疏扫描；根据压缩感知原理，重构高采样率下全矩阵扫描的全局超声强度分布，通过极值检测实现全局稀疏定位；然后，在全局稀疏定位的基础上，采用高空间分辨率进行局部精细扫描；利用全局稀疏定位和局部精细扫描数据，通过合成孔径聚焦技术，生成低空间分辨率的稀疏成像结果，并再次利用压缩感知原理进行高分辨率压缩感知重构成像。因此，采用基于采样‑成像双阶压缩感知的激光超声缺陷成像方法，能够实现微小缺陷的高效成像，提高成像精度的同时减少扫描点。
本发明授权基于采样-成像双阶压缩感知的激光超声缺陷成像方法在权利要求书中公布了：1.基于采样-成像双阶压缩感知的激光超声缺陷成像方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、在待测样品的全局检测范围内，采用随机稀疏采样策略选取个测量点，通过激励-探测激光源定距扫描检测方式进行稀疏扫描，并同步记录时域A扫波形数据； S2、将稀疏扫描的A扫波形数据映射到三维空间坐标，根据压缩感知原理，重构高采样率下全矩阵扫描的全局超声强度分布，并通过极值分析识别出全局超声强度分布的特征点，实现全局稀疏定位； S3、将全局稀疏定位结果作为局部精细扫描的中心位置，在中心位置左右两侧各L长度范围内，采用高空间分辨率步进执行局部精细扫描； S4、基于全局稀疏定位和局部精细扫描记录的A扫信号数据，通过合成孔径聚焦技术，结合信号时延校正与相干叠加方法，在检测区域内对每个像素点实现动态聚焦，生成低空间分辨率的稀疏成像结果； S5、利用低空间分辨率的稀疏成像结果，进一步采用压缩感知原理进行高分辨率压缩感知重构成像，获得高精度的激光超声缺陷成像。
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