北京交通大学王磊获国家专利权
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龙图腾网获悉北京交通大学申请的专利晶体管老化参数检测装置、老化程度预测系统及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114646854B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210181530.5,技术领域涉及:G01R31/26;该发明授权晶体管老化参数检测装置、老化程度预测系统及方法是由王磊;贾利民;周明超;刁利军;徐春梅;东野忠昊;沙妍蓓设计研发完成,并于2022-02-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本晶体管老化参数检测装置、老化程度预测系统及方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种晶体管老化参数检测装置、老化程度预测系统及方法,属于晶体管技术领域,包括:将外部AC电源转换为DC电源的开关电源,与开关电源连接有电源模块,开关电源和所述可调电源模块之间设有电源开关;电源模块连接有电容器、电位器、电压数显表、分压器和电流数显表;开关电源和可调电源模块之间设有输出按钮,输出按钮连接有第一继电器。本发明能够灵活的结合实际工程环境对IGBT的截止电压和截止电流进行参数检测,基于所测截止电压和截止电流实现对IGBT老化程度预测;所检测的截止电压和截止电流为IGBT的静态参数,能够反映出IGBT的性能、失效与否以及健康程度;能够对现场人员在IGBT的前期选型过程和运维失效判别、预防性维保过程起到指导意义。
本发明授权晶体管老化参数检测装置、老化程度预测系统及方法在权利要求书中公布了:1.一种晶体管老化程度预测系统,其特征在于,包括: 晶体管老化参数检测装置,用于获取待预测的晶体管的截止电压和截止电流; 预测模块,用于利用预先训练好的预测模型对获取的截止电压和截止电流进行处理,获得待预测的晶体管下一个时间间隔的老化状态;其中,预测模型包括LSTM网络和分类器模型;所述LSTM网络用于以相同时间间隔下截止电压和截止电流时间序列为输入,获得下一个时间序列的截止电压和截止电流归一化预测值为输出;所述分类器模型,用于将归一化的截止电压和截止电流预测值进行还原,结合参数判定标准将还原后的预测数值利用有监督式学习分类方法进行分类评估,得到下个时间序列晶体管老化程度达标与否的概率;其中,所述预测模型由训练集训练得到,所述训练集包括多组数据,其中,每组数据均包括一组截止电压和截止电流,以及标注与该组截止电压和截止电流对应的晶体管的老化状态的标签;其中,LSTM网络的训练过程包括: 首先设定一个初始隐藏状态h10,h20以及细胞状态C10,C20,取值采用随机生成函数的取值,x1t和x2t分别为第t个时间序列的IGBT截止电压数值和截止电流数值;分别对截止电压和截止电流网络中遗忘门的输出f11、f21进行求解; 输入门由两部分组成,第一部分输入门输出为i11,i21,第二部分输入门输出为a11,a21;遗忘门和输入门的输出结果都会作用于细胞状态C1和C2; 隐藏状态h11、h21由两部分组成,第一部分是输出门值o11、o21,它由上一时间的隐藏状态和本时间的IGBT截止电压和截止电流决定,可得隐藏状态h11、h21的表达式; 计算出第一个时间的隐藏状态和细胞状态后,依次计算各个其他时间序列的IGBT截止电压和截止电流,计算N次后,最后得第当前t时间序列下IGBT截止电压VCES和截止电流ICES的下一个时间序列归一化预测值; 利用输出预测函数与实际值得到损失函数,对损失函数使用梯度下降法,求得各个参数的梯度计算公式,不断更新迭代各个参数,直至满足误差要求,最终得到以相同时间间隔下IGBT截止电压VCES和截止电流ICES时间序列为输入,下一个时间序列的IGBT截止电压和截止电流归一化预测值为输出的LSTM网络。
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