上海华岭集成电路技术股份有限公司余琨获国家专利权
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龙图腾网获悉上海华岭集成电路技术股份有限公司申请的专利电容测量装置及电容测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114879009B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210485515.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权电容测量装置及电容测量方法是由余琨;王华设计研发完成，并于2022-05-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本电容测量装置及电容测量方法在说明书摘要公布了：一种电容测量装置及电容测量方法，配置为批量测试芯片的电容参数，所述电容测量装置包括：测量电路板，包括：测试工位，配置为安装所述待测芯片；以及参考电容，所述参考电容的第一端与安装在所述测试工位的待测芯片的第一管脚电连接于第一节点，所述参考电容的第二端配置为接收第一测量信号，所述安装在所述测试工位的待测芯片的第二管脚配置为接收第二测量信号，以及自动测试机，与所述测量电路板电连接，配置为提供所述第一测量信号和所述第二测量信号，并基于第一节点处的信号确定所述待测芯片的电容参数，其中，所述第一测量信号和第二测量信号均为正弦信号或余弦信号，其第一测量信号与所述第二测量信号的相位差为2n+1π,其中n为整数。
本发明授权电容测量装置及电容测量方法在权利要求书中公布了：1.一种电容测量装置，配置为批量测试芯片的电容参数，其特征在于，所述电容测量装置包括： 测量电路板，包括： 测试工位，配置为安装待测芯片；以及 参考电容，所述参考电容的第一端与安装在所述测试工位的待测芯片的第一管脚电连接于第一节点，所述参考电容的第二端配置为接收第一测量信号，所述安装在所述测试工位的待测芯片的第二管脚配置为接收第二测量信号，以及 自动测试机，与所述测量电路板电连接，配置为提供所述第一测量信号和所述第二测量信号，并基于第一节点处的信号确定所述待测芯片的电容参数， 其中，所述第一测量信号和第二测量信号均为正弦信号或余弦信号，其第一测量信号与所述第二测量信号的相位差为2n+1π,其中n为整数，所述第一测量信号和第二测量信号中的至少一个的幅度是可调的。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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