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龙图腾网获悉东南大学申请的专利一种引线框架引脚间距的高精度测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115527049B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211256870.6，技术领域涉及：G06V10/75；该发明授权一种引线框架引脚间距的高精度测量方法是由张小国;王士强;史志豪;刘复铭;王慧青设计研发完成，并于2022-10-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种引线框架引脚间距的高精度测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种引线框架引脚间距的高精度测量方法，属于机器视觉领域。方法包括：在获取到基准图像和待测图像后，对基准图像图像处理及旋转，得到多角度的高层金字塔旋转模板图像和对应的掩码；进行模板匹配实现粗匹配，对匹配结果进行处理得到只包含引线框架引脚区域的引脚图像；对引脚图像轮廓检测并对每个轮廓处理得到引脚掩码图像，与待测图像融合得到引脚粗定位图像；对引脚粗定位图像进行亚像素边缘检测，得到亚像素边缘点集合；对相邻轮廓的边缘点集合计算最小距离，得到相邻引线框架引脚的间距。该方法通过模板匹配粗匹配提高速度；通过图像实现间距量测，降低人工成本；同时为提高精度引入亚像素边缘检测，具有计算精度高的特点。

本发明授权一种引线框架引脚间距的高精度测量方法在权利要求书中公布了：1.一种引线框架引脚间距的高精度测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1：获取由X射线成像的包含引线框架和芯片内核的基准图像和待测图像； 步骤2：对步骤1中的基准图像进行图像预处理，得到基准图像中心的内核模板图像，对内核模板图像连续2至4次下采样处理，得到高层金字塔模板图像，具体方法为； 步骤2-1：对步骤1中的基准图像阈值分割，利用最大类间方差法得到基准图像的灰度阈值，高于灰度阈值的像素点灰度值变为255，高于灰度阈值的像素点灰度值变为0，得到基准阈值分割图像； 步骤2-2：对步骤2-1中基准阈值分割图像中心裁剪，裁剪范围为距离芯片内核的外围200至300像素距离处，得到内核模板图像； 步骤2-3：所述步骤2-2中对内核模板图像进行连续2至4次下采样处理，具体为：以内核模板图像作为底层金字塔模板图像，对底层金字塔模板图像抽取奇数行和奇数列，获得图像尺寸为底层金字塔模板图像行和列的12的第一层金字塔模板图像；对第一层金字塔模板图像抽取奇数行和奇数列，获得图像尺寸为第一层金字塔模板图像行和列的12的第二层金字塔模板图像；重复上述操作2-4次，得到高层金字塔模板图像； 步骤3：对步骤1中的待测图像进行图像预处理和连续2至4次下采样处理，得到底层金字塔待测图像和高层金字塔待测图像； 对步骤1中的待测图像进行图像预处理和下采样处理，其中图像预处理方法同步骤2-1中的阈值分割步骤一致，以处理后的图像作为底层金字塔待测图像，下采样处理方法同步骤2-3中下采样处理具体步骤一致，得到高层金字塔待测图像； 步骤4：制作步骤2中高层金字塔模板图像的掩码mask，并与高层金字塔模板图像在[-20°～-10°，10°～20°]范围内旋转，得到多角度的高层金字塔旋转模板图像和与之对应的多角度的高层金字塔旋转掩码图像； 步骤5：粗匹配，将步骤4中的多角度的高层金字塔旋转模板图像与步骤3中的高层金字塔待测图像依次模板匹配，将最佳匹配结果和步骤3中底层金字塔待测图像融合得到只包含引线框架引脚的引脚图像； 步骤6：对步骤5中的引脚图像进行图像处理，然后对其提取轮廓，得到包含引脚图像中所有引脚轮廓的轮廓集合，依次对轮廓集合中每个轮廓处理，得到每一个轮廓的轮廓掩码图像； 步骤7：结合轮廓掩码图像，使用结合自适应阈值和多项式插值法的亚像素边缘检测方法对步骤1中的待测图像进行边缘检测，得到每一个引脚边缘的亚像素坐标点集合； 步骤8：根据步骤7中的亚像素坐标点集合，采用二维空间的欧氏距离方法计算得到相邻引脚的间距。

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