成都海光微电子技术有限公司张振亮获国家专利权
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龙图腾网获悉成都海光微电子技术有限公司申请的专利传感器测试方法及装置、电子设备及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116576904B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310577623.4，技术领域涉及：G01D18/00；该发明授权传感器测试方法及装置、电子设备及计算机可读存储介质是由张振亮;金军贵;顾艺设计研发完成，并于2023-05-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本传感器测试方法及装置、电子设备及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种传感器测试方法及装置、电子设备及计算机可读存储介质，涉及传感器领域。其中，传感器测试方法，包括：根据待测传感器的传感器类型获取一次拟合函数，所述一次拟合函数用于将所述待测传感器生成的电信号转换为感测数据，所述一次拟合函数为所述待测传感器同类型的传感器共有的误差拟合函数；获取多个目标采样数据，所述目标采样数据为所述待测传感器感测到的数据；根据所述多个目标采样数据对所述一次拟合函数进行函数拟合，得到二次拟合函数。与现有技术相比，本发明实施例所提供的传感器测试方法及装置、电子设备及计算机可读存储介质具有减少传感器测试过程中需要的测试数据的数量的优点。
本发明授权传感器测试方法及装置、电子设备及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种传感器测试方法，其特征在于，包括： 根据待测传感器的传感器类型获取一次拟合函数，所述一次拟合函数用于将所述待测传感器生成的电信号转换为感测数据，所述一次拟合函数为所述待测传感器同类型的传感器共有的误差拟合函数； 获取多个目标采样数据，所述目标采样数据为所述待测传感器感测到的数据； 以所述一次拟合函数为变量，使用所述多个目标采样数据对所述一次拟合函数进行多项式拟合，得到若干目标多项式系数； 根据所述目标多项式系数构建多项式函数作为二次拟合函数；所述二次拟合函数用于对具体的待测传感器的个体产生的误差进行拟合。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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