买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉杭州电子科技大学;杭州电子科技大学舟山同博海洋电子信息研究院有限公司申请的专利一种基于重参数化卷积的目标检测位置编码方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118521862B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410745161.7，技术领域涉及：G06V10/80；该发明授权一种基于重参数化卷积的目标检测位置编码方法是由周丽;李涵;殷昱煜;吴宝福;张新;梁婷婷;王洪波设计研发完成，并于2024-06-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于重参数化卷积的目标检测位置编码方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于重参数化卷积的目标检测位置编码方法，该方法首先将图像向量进行滑动窗口上采样处理，获得扩充后的图像向量Wout。其次提取滑动窗口上采样后的Wout的卷积位置编码信息，以及提取图像掩码的绝对位置信息。最后将卷积位置编码信息和绝对位置信息，通过融合位置编码再提取模块，获得融合后的图像位置编码特征，完成目标检测位置编码。本发明充分利用图像特征信息和掩码，更好的利用图像原本的特征，从而提高整个模型的检测能力。

本发明授权一种基于重参数化卷积的目标检测位置编码方法在权利要求书中公布了：1.一种基于重参数化卷积的目标检测位置编码方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤1.将图像向量进行滑动窗口上采样处理，获得扩充后的图像向量Wout，具体过程为：图像向量Win，大小为B,C,H,W，其中B代表每个批次图像的数量，C代表图像特征的通道数，H和W分别表示图像的宽高，进行滑动窗口上采样处理； 所述上采样过程为：首先检测图像特征Win第二维度大小，即通道数C的大小，其次统一在该图像向量的第二维度上使用滑动窗口上采样模块扩充到大小M，获得扩充后的图像向量Wout，其大小为B,M,H,W； 步骤2.提取滑动窗口上采样后的Wout的卷积位置编码信息WConv，以及提取图像掩码Mask的绝对位置信息WAPE； 所述提取Wout的卷积位置编码信息WConv具体如下： 对于Wout使用重参数化卷积操作，通过提取训练后的卷积核参数Wb进行参数变化后获得卷积核参数Wt，并使用Wt作为最终的卷积核进行卷积操作；同时获得第一次提取后的位置编码信息WConv，其大小为B,N,H,W； 所述提取图像掩码Mask的绝对位置信息WAPE具体如下： 对Mask进行绝对位置编码操作，首先按照Mask的大小B,H,W计算累积和矩阵M，其大小为B,H,W，对累计和矩阵进行数值正则化处理，其次使用temperature超参数模块平滑矩阵M的数值分布；然后进行大小映射使其变为B,1,H,W的向量，最后复制扩充第二维度到N个，并对数组中的每个元素，计算其值与数组的索引之间的比例，获得绝对位置编码WAPE，其大小为B,N,H,W； 步骤3.将卷积位置编码信息WConv和绝对位置信息WAPE，通过融合位置编码再提取模块，获得融合后的图像位置编码特征Wcpe，完成目标检测位置编码。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人杭州电子科技大学;杭州电子科技大学舟山同博海洋电子信息研究院有限公司，其通讯地址为：310018 浙江省杭州市钱塘区白杨街道2号大街1158号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。