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龙图腾网获悉青岛海波东电器科技有限公司申请的专利一种玻璃表面纳米涂层厚度控制方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120182192B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510232536.4，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种玻璃表面纳米涂层厚度控制方法及系统是由薛茹升;丁常馨;薛少华;滕腾设计研发完成，并于2025-02-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种玻璃表面纳米涂层厚度控制方法及系统在说明书摘要公布了：本申请提供一种玻璃表面纳米涂层厚度控制方法及系统，属于检测控制技术领域，用以以实现低成本且高精度的纳米涂层厚度检测控制。控制设备获取目标图像，玻璃面板表面涂覆有纳米涂层，目标图像是在将纳米涂层表面进行雾化处理的情况下，对玻璃面板表面的纳米涂层进行拍摄得到；控制设备将目标图像离散分割为K个子图像集合；控制设备通过AIML模型分别对K个子图像集合进行分析，得到对应的K个分析结果，并将K个分析结果融合，得到目标图像的分析结果，目标图像的分析结果为在玻璃面板上标注纳米涂层非均匀的区域的图像；控制设备指示涂覆设备对非均匀的区域的纳米涂层进行修正。

本发明授权一种玻璃表面纳米涂层厚度控制方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种玻璃表面纳米涂层厚度控制方法，其特征在于，所述方法应用于控制设备，所述方法包括： 所述控制设备获取目标图像，玻璃面板表面涂覆有纳米涂层，所述目标图像是在将所述纳米涂层表面进行雾化处理的情况下，对所述玻璃面板表面的纳米涂层进行拍摄得到； 所述控制设备将所述目标图像离散分割为K个子图像集合，所述K个子图像集合中任两个子图像集合包含的子图像不同，K为大于1的整数，所述K个子图像集合中第i个子图像集合包含的任两张子图像在所述目标图像中的位置不相邻，所述第i个子图像集合包含的任两张子图像的大小相同，i为取1至K的整数； 所述控制设备通过AIML模型分别对所述K个子图像集合进行分析，得到对应的K个分析结果，并将所述K个分析结果融合，得到所述目标图像的分析结果，所述目标图像的分析结果为在玻璃面板上标注纳米涂层非均匀的区域的图像； 所述控制设备指示涂覆设备对所述非均匀的区域的纳米涂层进行修正； 所述控制设备通过AIML模型分别对所述K个子图像集合进行分析，得到对应的K个分析结果，并将所述K个分析结果融合，得到所述目标图像的分析结果，包括： 针对所述第i个子图像集合，i遍历1至K，所述控制设备将所述第i个子图像集合中的子图像两两随机组合，得到P个子图像组，并通过所述AIML模型分析所述P个子图像组中第j个子图像组，得到所述第j个子图像组的分析结果，j为遍历1至P的整数，所述第j个子图像组的分析结果为标注或未标注纳米涂层非均匀的区域的两个子图像；所述K个分析结果中的第i个分析结果包括所述第j个子图像组的分析结果； 所述控制设备将所述K个分析结果按所述离散分割的顺序拼接，得到所述目标图像的分析结果； 其中，所述控制设备将所述第i个子图像集合中的子图像两两随机组合，得到P个子图像组，并通过所述AIML模型分析所述P个子图像组中第j个子图像组，得到所述第j个子图像组的分析结果，包括： 针对所述第i个子图像集合，i遍历1至K： 所述控制设备将所述第i个子图像集合中的子图像两两随机组合，得到所述P个子图像组；所述控制设备将所述第j个子图像组输入所述AIML模型的特征提取层，得到AIML模型的特征提取层输出的所述第j个子图像组中两个子图像一一对应的两个特征序列；所述控制设备通过所述AIML模型的特征处理层分析所述两个特征序列，得到所述第j个子图像组的分析结果； 其中，所述控制设备通过所述AIML模型的特征处理层分析所述两个特征序列，得到所述第j个子图像组的分析结果，包括： 所述控制设备通过计算所述两个特征序列中对应位置的每个两个特征元素的差值，在所述两个特征序列中将差值小于预设阈值的每个两个特征元素的取值设置为默认值，得到两个修正的特征序列； 所述控制设备将所述两个修正的特征序列各自的特征元素按照能量等级进行交织，得到两个交织后的特征序列，并将所述两个交织后的特征序列输入所述AIML模型的特征处理层，得到所述AIML模型的特征处理层输出的所述第j个子图像组的分析结果。

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