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龙图腾网获悉西安智多晶微电子有限公司申请的专利软错误注入方法及FPGA芯片获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120371622B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510864367.6，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权软错误注入方法及FPGA芯片是由彭利泽;吴林鑫;贾弘翊;韦嶔设计研发完成，并于2025-06-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本软错误注入方法及FPGA芯片在说明书摘要公布了：本发明公开了一种软错误注入方法及FPGA芯片，该方法应用于FPGA芯片的软核IP上，所述FPGA芯片中软错误纠正SEC硬核的注入接口被封装在所述软核IP中，所述方法包括：接收来自用户的设置信号，得到设置信息；根据设置信息生成软错误注入信息；通过注入接口向SEC硬核发送软错误注入信息，以令SEC硬核根据软错误注入信息注入软错误。本发明在进行软错误注入时不依赖JTAG接口，占用的FPGA资源较小，注入效率较高。

本发明授权软错误注入方法及FPGA芯片在权利要求书中公布了：1.一种软错误注入方法，其特征在于，所述方法应用于FPGA芯片的软核IP上，所述FPGA芯片中软错误纠正SEC硬核的注入接口被封装在所述软核IP中，所述方法包括： 接收来自用户的设置信号，得到设置信息，其中，所述用户通过点击生成界面中的相应区域，向所述软核IP发送所述设置信号； 根据所述设置信息生成软错误注入信息； 通过所述注入接口向所述SEC硬核发送所述软错误注入信息，以令所述SEC硬核根据所述软错误注入信息注入软错误； 其中，所述软错误注入信息包括至少一个软错误注入地址及软错误注入逻辑控制文件，其中，所述软错误注入逻辑控制文件用于控制所述SEC硬核在所述软错误注入地址处进行软错误注入； 所述设置信息包括：校验模式、软错误注入数量、指定地址或软错误注入地址生成算法； 所述软错误注入地址为所述指定地址，或者是根据所述软错误注入地址生成算法生成的； 所述软错误注入地址生成算法包括高斯分布、指数分布、Beta分布和三角分布随机算法； 所述软错误注入地址不包括FPGA芯片的无功能区域； 所述注入接口为使能信号接口，用于接收使能信号，并在检测到所述使能信号的上升沿时指示所述SEC硬核注入软错误。

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