全芯智造技术有限公司请求不公布姓名获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉全芯智造技术有限公司申请的专利用于检测缺陷的方法、设备和计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113269255B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110580668.8，技术领域涉及：G06V10/774；该发明授权用于检测缺陷的方法、设备和计算机可读存储介质是由请求不公布姓名设计研发完成，并于2021-05-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于检测缺陷的方法、设备和计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：根据本公开的示例实施例，提供了用于检测缺陷的方法、设备和计算机可读存储介质。在接收到将要用于训练缺陷检测模型的候选图像集后，从已用于训练缺陷检测模型的历史图像集中选择一组历史图像。候选图像集和历史图像集中的图像包括与图像中的对象有关的缺陷。从候选图像集中确定一组代表性图像。代表性图像能够反映候选图像集中的多个不同图像的图像特征。然后，至少基于所选择的一组历史图像和一组代表性图像，训练缺陷检测模型。经训练的缺陷检测模型用于检测与待检测图像中的对象有关的缺陷。本公开的实施例能够加速缺陷检测模型的增量训练。
本发明授权用于检测缺陷的方法、设备和计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种训练缺陷检测模型的方法，包括： 响应于接收到将要用于训练所述缺陷检测模型的候选图像集，从已用于训练所述缺陷检测模型的历史图像集中选择一组历史图像，所述候选图像集和所述历史图像集中的图像包括与图像中的对象有关的缺陷； 从所述候选图像集中确定一组代表性图像，所述一组代表性图像中的每个图像反映所述候选图像集中的多个不同图像的图像特征；以及 至少基于所述一组历史图像和所述一组代表性图像，训练所述缺陷检测模型，以用于检测与待检测图像中的对象有关的缺陷， 其中从所述候选图像集中确定所述一组代表性图像包括： 基于所述候选图像集中的每个候选图像的图像特征，将所述候选图像集划分成候选图像的多个分组；以及 从所述多个分组中的每个分组中选择至少一个候选图像以组合成所述一组代表性图像， 其中从每个分组中所选择的候选图像的数目与相应分组中的候选图像的数目有关。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人全芯智造技术有限公司，其通讯地址为：230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期J2C栋13楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号