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龙图腾网获悉上海艾豚科技有限公司申请的专利工件上检测点错漏装检测的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114241342B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111253287.5，技术领域涉及：G06V20/20；该发明授权工件上检测点错漏装检测的方法是由张玉柱;戎怀阳;杨凯健设计研发完成，并于2021-10-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本工件上检测点错漏装检测的方法在说明书摘要公布了：本发明的工件上检测点错漏装检测的方法，属于图像识别方法的技术领域，解决现有技术的采用肉眼检测工件效率低的技术问题。其包括使用双目立体相机对工件进行拍摄获取待检测图像；所述双目立体相机与检测平面之间的坐标转换，确定所述双目立体相机的转换矩阵；确定所述待检测图像中待测检测点的参数，根据待测检测点的所述参数确定每个检测点的深度；所述深度和每个检测点的坐标通过所述转换矩阵确定每个检测点在世界坐标系中的坐标；获取工件标准件所有检测点在世界坐标中的的标准参数，通过对比完成检测。本发明通过相机图像识别的方式替代传统人工识别的方式，提高检测效率。

本发明授权工件上检测点错漏装检测的方法在权利要求书中公布了：1.一种工件上检测点错漏装检测的方法，适用于产线上工件错或漏装的检测，其特征在于，所述方法包括： 使用双目立体相机对工件进行拍摄获取待检测图像，且在拍摄之前校验所述双目立体相机； 所述双目立体相机与检测平面之间的坐标转换，确定所述双目立体相机的转换矩阵，所述转换矩阵用以所述双目立体相机拍照的图像坐标能够转换到以检测平面为坐标系的世界坐标系中； 确定所述待检测图像中待测检测点的参数，根据待测检测点的所述参数确定每个检测点的深度；待测检测点的参数至少包括在检测点在图像坐标系中的位置、尺寸和待测类别； 获取每个检测点在图像坐标系中的坐标，所述深度和每个检测点的坐标通过所述转换矩阵确定每个检测点在世界坐标系中的坐标，即为，第一坐标； 获取工件标准件所有检测点在世界坐标系中的标准参数，并根据待测试件的所有检测点的第一坐标和待测检测点的参数确定工件是否合格； 其中，通过校验保证双目立体相机的图像坐标系统一，使所有的相机拍照的图像坐标，都转换到同一个以检测平面为坐标系的世界坐标系中，进而完成所有相机的坐标系统一。

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