中国市政工程东北设计研究总院有限公司胡莹获国家专利权
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龙图腾网获悉中国市政工程东北设计研究总院有限公司申请的专利一种校正火焰原子吸收法干扰的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114660008B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210415661.5,技术领域涉及:G01N21/31;该发明授权一种校正火焰原子吸收法干扰的方法是由胡莹;闫钰;俞双;孙杨;王琪;关鹤达;李太宇;张溶;赵丹丹设计研发完成,并于2022-04-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种校正火焰原子吸收法干扰的方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种校正火焰原子吸收法干扰的方法,包括:采用火焰原子吸收法检测标准曲线上特征浓度值的吸光度是否在预设范围内,若不在预设范围内通过灵敏度调整进行校正,直至使吸光度达到预设范围;进行标准曲线的绘制,得到标准曲线;检测标准曲线最高段吸光度差和浓度差的比值与最低段吸光度差和浓度差的比值是否在预设范围内,若不在预设范围内,通过灵敏度调整进行校正,得到校正后的标准曲线;采用校正后的标准曲线检测环境样品并进行抗干扰操作,判断是否存在干扰。本发明利用标准曲线结合合理提高降低灵敏度校正火焰原子吸收检测的干扰,校正干扰后,对消除干扰的效果进一步验证。
本发明授权一种校正火焰原子吸收法干扰的方法在权利要求书中公布了:1.一种校正火焰原子吸收法干扰的方法,包括: 采用火焰原子吸收法检测标准曲线上的特征浓度值的吸光度是否在预设范围内,若不在预设范围通过灵敏度调整进行校正,直至使吸光度达到预设范围;所述特征浓度值的吸光度的预设范围包括: 检出限~5倍测定下限之间的浓度点,所述检出限~5倍测定下限之间的浓度点的吸光度预设范围为0~0.050; 5倍测定下限~10倍测定下限之间的浓度点,所述5倍测定下限~10倍测定下限之间的浓度点的吸光度预设范围为0.050~0.100; 10倍测定下限~50倍测定下限之间的浓度点,所述10倍测定下限~50倍测定下限之间的浓度点的吸光度预设范围为0.100~0.500; 进行标准曲线绘制,得到标准曲线; 检测所述标准曲线最高段吸光度差和浓度差的比值与最低段吸光度差和浓度差的比值是否在预设范围内,若不在预设范围内通过灵敏度调整进行校正,直至达到预设范围;得到校正后的标准曲线; 所述标准曲线最高段吸光度差和浓度差的比值与最低段吸光度差和浓度差的比值的预设范围包括:将标准曲线平均分为5段,测定每段的吸光度差浓度差:若标准曲线最高点吸光度>0.050,则最高段吸光度差浓度差与最低段吸光度差浓度差的比值≥0.9; 若标准曲线最高点吸光度>0.100,则最高段吸光度差浓度差与最低段吸光度差浓度差的比值≥0.85; 若标准曲线最高点吸光度>0.200,则最高段吸光度差浓度差与最低段吸光度差浓度差的比值≥0.8; 若标准曲线最高点吸光度>0.300,则最高段吸光度差浓度差与最低段吸光度差浓度差的比值≥0.75; 若标准曲线最高点吸光度>0.400,则最高段吸光度差浓度差与最低段吸光度差浓度差的比值≥0.7; 若最高段吸光度差和浓度差的比值与最低段吸光度差和浓度差的比值小于预设范围,则提高灵敏度;若最高段吸光度差和浓度差的比值与最低段吸光度差和浓度差的比值大于预设范围,则降低灵敏度;所述降低灵敏度的方法包括:检测光路通过标准孔洞时,旋转燃烧头角度,每次顺时针旋转5~10℃,直至达到预设范围; 所述提高灵敏度的方法包括:检测光路通过标准孔洞的基础上,调整燃烧头高度,每次提高1.0~2.0nm,直至达到预设范围; 采用校正后的标准曲线检测环境样品并进行抗干扰操作,判断是否存在干扰; 所述抗干扰操作的方法包括: 根据检测环境样品的浓度对环境样品的平行样进行加标或稀释处理,包括,所述检测环境样品的浓度为C原始: 若1倍测定下限≤C原始<4倍测定下限,则对平行样加标处理得到C加标溶液,加标倍数不低于1.25倍,不超过4倍; 若4倍测定下限≤C原始<10倍测定下限,则对平行样加标或稀释处理得到C加标稀释溶液,加标或稀释的C加标稀释溶液同时满足:4倍测定下限≤C加标稀释<10倍测定下限; 若10倍测定下限≤C原始<标准曲线次高点浓度,则对平行样稀释处理得到C稀释,10倍测定下限≤C稀释; 若标准曲线次高点浓度≤C原始,则对平行样两次稀释处理得到溶液CC1和CC2,CC1浓度>CC2浓度,同时满足:10倍测定下限≤CC1<标准曲线次高点浓度,10倍测定下限≤CC2<标准曲线次高点浓度; 若检出限≤C原始<测定下限,则对平行样加标处理得到C加标溶液,10倍测定下限≤C加标稀释<标准曲线次高点; 若C原始<检出限,则测定平行样7次; 所述判断是否存在干扰的方法包括: 若1倍测定下限≤C原始<4倍测定下限,则C原始=(85~115%)(1J加标)×C加标,视为检测中没有干扰; 若4倍测定下限≤C原始<10倍测定下限,则C原始=(90~110%)(N稀释或1J加标)×C加标稀释,视为检测中没有干扰; 若10倍测定下限≤C原始<标准曲线次高点浓度,则C原始=(95~105%)N稀释×C稀释,视为检测中没有干扰; 若标准曲线次高点浓度≤C原始,则N稀释1CC1=(95~105%)N稀释2×CC2,视为检测中没有干扰; 若检出限≤C原始<测定下限,则C原始=(75~125%)(1J加标)×C加标,视为检测中没有干扰。
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