浙江地芯引力科技有限公司金煜昊获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江地芯引力科技有限公司申请的专利芯片检测方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114994514B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210769973.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片检测方法、装置、设备及存储介质是由金煜昊;李绍瑜;吕后阳设计研发完成，并于2022-07-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片检测方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请提出一种芯片检测方法、装置、设备及存储介质，该芯片检测方法，基于预设检测电路，预设检测电路包括依次连接的芯片接口、上拉电阻及电源接口，芯片接口用于接入待测芯片，且芯片接口和电源接口均连接单片机；方法包括：检测单片机向预设检测电路供电过程中，待测芯片所呈现的待测特性数据；待测特性数据至少包括两组电压相关的特性参数；根据待测特性数据和预设基准芯片的对应特性数据，确定待测芯片和预设基准芯片是否具有相同的特性。本申请能够大大提高区分检测的准确性，减少传统方法造成的误判和漏判现象。
本发明授权芯片检测方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片检测方法，其特征在于，基于预设检测电路，所述预设检测电路包括依次连接的芯片接口、上拉电阻及电源接口，所述芯片接口用于接入待测芯片，且所述芯片接口和所述电源接口均连接单片机；所述方法包括： 检测所述单片机向所述预设检测电路供电过程中，所述待测芯片所呈现的待测特性数据；所述待测特性数据至少包括两组电压相关的特性参数； 根据所述待测特性数据和预设基准芯片的对应特性数据，确定所述待测芯片和所述预设基准芯片是否具有相同的特性； 所述待测特性数据包括I-V特性数据和上电特性数据中的至少一者；所述I-V特性数据用于表征，待测芯片加载不同输入电压的过程中，通过所述上拉电阻的电流和所述电源接口输出的第一电压之间的对应关系；所述上电特性数据用于表征，所述电源接口输出固定的第一电压时，所述芯片接口输出稳定电压的稳定时间和稳定电压之间的对应关系。
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