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龙图腾网获悉同济大学;上海同繁勘测工程科技有限公司申请的专利室内外一体化检校方法、系统、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116593403B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210843476.6，技术领域涉及：G01N21/25；该发明授权室内外一体化检校方法、系统、电子设备及存储介质是由刘春;周骁腾;薛云;周源;曾勇设计研发完成，并于2022-07-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本室内外一体化检校方法、系统、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种室内外一体化检校方法、系统、电子设备及存储介质，其中，室内外一体化检校方法包括：采集室内检校数据，计算室内检校数据并建立初始校正模型；其中，初始校正模型包括几何校正模型和或辐射校正模型；采集室外验证数据，将室外验证数据输入初始校正模型，并得出验证结果；其中，室外验证数据与室内检校数据的数据类型相同；若验证结果小于或者等于预设误差，则输出初始校正模型，初始校正模型用于检校影像。本发明充分考虑室内室外环境数据对多光谱相机拍摄影像的影响，提出了一套完整的室内室外一体化的检校方法。

本发明授权室内外一体化检校方法、系统、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种室内外一体化检校方法，其特征在于，应用于多光谱相机拍摄的影像的检校，所述室内外一体化检校方法包括： 采集室内检校数据，计算所述室内检校数据并建立初始校正模型；其中，所述初始校正模型包括几何校正模型和或辐射校正模型； 采集室外验证数据，将所述室外验证数据输入所述初始校正模型，并得出验证结果；其中，所述室外验证数据与所述室内检校数据的数据类型相同； 若验证结果小于或者等于预设误差，则输出所述初始校正模型，所述初始校正模型用于检校所述影像； 所述采集室内检校数据，计算所述室内检校数据并建立初始校正模型的步骤包括： 采集室内辐射检校数据，并将所述室内辐射检校数据输入所述几何校正模型，输出修正后的室内辐射检校数据； 对所述修正后的室内辐射检校数据进行暗电流检校、渐晕效应检校和量子效率拟合的处理，并根据处理结果建立辐射校正模型； 所述室内外一体化检校方法还包括： 采集室外大气检校数据，并将所述室外大气检校数据输入所述几何校正模型和所述辐射校正模型，输出修正后的室外大气检校数据； 根据零反射率靶标的辐亮度值确定大气程辐射值； 根据所述大气程辐射值和所述室外大气检校数据，建立大气校正模型，所述大气校正模型用于检校所述影像； 所述室内外一体化检校方法还包括： 采集室外反射率检校数据，并将所述室外反射率检校数据依次输入所述几何校正模型、所述辐射校正模型和所述大气校正模型，输出修正后的室外反射率检校数据； 利用暗目标法和经验线性法，获取所述大气程辐射值对应的下行辐亮度值；根据所述下行辐亮度值和所述室外反射率检校数据，建立反射率校正模型，所述反射率校正模型用于检校所述影像。

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